23.高温高湿贮存测验
一、意图:
测验高温高湿贮存环境对S.M.P.S.的结构,元件及整机电气的影响,以考量S.M.P.S.结构设计及零件选用的合理性.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). TEMP. CHAMBER /温控室;
(5). HI-POT TESTER /高压测验仪
三.测验条件:
贮存高温高湿条件:一般为温度70±2℃,湿度90-95%实验时刻24Hrs(非操作条件).
四、测验办法:
(1).实验前记载待测品输入功率,输出电压及HI-POT情况;
(2).将承认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规范设定其温度和湿度,然后发动温控室;
(3).实验24Hrs,实验完毕后在空气中放置至少4Hrs,再承认待测品外观,结构及电气功能是否有反常.
五、注意事项:
(1).产品实验期间与实验后,产品功能不能呈现降级与退化现象.
(2).实验后产品的介电强度与绝缘电阻测验需契合规范书要求.
24.低温操作测验
一、意图:
测验低温环境对S.M.P.S.操作进程中的结构,元件及整机电气的影响,用以考量S.M.P.S.结构设计及零件选用的合理性.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). TEMP. CHAMBER /温控室;
(5). HI-POT TESTER /高压测验仪;
三.测验条件:
(1).依SPEC.要求:输入条件(RATED VOLTAGE),输出负载(FULL LOAD)和操作温度(OPERATION TEMP.),一般温度为:(0℃).
(2).实验时刻: 4Hrs.
四、测验办法:
(1).将待测品置于温控室内,依规范设定好输入输出测验条件,然后开机.
(2).依规范设定好温控室的温度,然后发动温控室.
(3).守时记载待测品输入功率和输出电压,以及待测品是否有反常;
(4).做完测验后将待测品从温控室中移出,在常温环境下康复至少4小时,然后承认其外观和电气功能有无反常.
五、注意事项:
(1).产品实验期间与实验后,产品功能不能呈现降级与退化现象.
(2).实验后产品的介电强度与绝缘电阻测验需契合规范书要求.
25.低温贮存测验
一、意图:
测验低温贮存环境对S.M.P.S.的结构,元件及整机电气的影响,用以考量S.M.P.S.结构设计及零件选用的合理性.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). TEMP. CHAMBER /温控室;
(5). HI-POT TESTER /高压测验仪;
三.测验条件:
贮存低温条件:一般为温度-30℃,实验时刻24Hrs(非操作条件).
四、测验办法:
(1).实验前记载待测品输入功率,输出电压及HI-POT情况.
(2).将承认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规范设定其温度,然后发动温控室.
(3).实验24Hrs,实验完毕后在空气中放置至少4Hrs,再将待测品做HI-POT测验,记载测验成果,之后承认待测品的外观,结构及
电气功能是否有反常.
五、注意事项:
(1).产品实验期间与实验后,产品功能不能呈现降级与退化现象.
(2).实验后产品的介电强度与绝缘电阻测验需契合规范书要求.
26.低温发动测验
一、意图:
测验低温贮存环境对S.M.P.S.的整机电气的影响,用以考量S.M.P.S.电气及零件选用的合理性.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). TEMP. CHAMBER /温控室;
三.测验条件:
贮存低温条件:一般为操作温度0℃条件下降低到-10 ±2℃,贮存时刻至少4Hrs.
四、测验办法:
(1).实验前记载待测品输入功率,输出电压及HI-POT情况.
(2).将承认后的待测品置入恒温恒湿机内,依规范设定其温度,然后发动温控室.
(3).实验温度贮存至少4Hrs,然后别离在115Vac/60Hz 230Vac/50Hz和输出最大负载条件下开关机各20次,承认待测品电气功能是否正常.
五、注意事项:
(1).在产品功能测验期间或测验之后,产品功能不能呈现降级与退化现象.
(2).设定的环境温度为操作低温的温度再降-10度.
27.温度循环测验
一、意图:
测验针对S.M.P.S.一切组成零件的加快性测验,用来暴露出在实际操作中所或许呈现的问题.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). TEMP. CHAMBER /温控室;
(5). HI-POT TESTER /高压测验仪;
三.测验条件:
操作温度条件:一般为低温度-40 ℃ 、25℃、33℃和高温度66 ℃(湿度: 50-90%),实验至少24个循环.
四、测验办法:
(1).实验前记载待测品输入功率,输出电压及HI-POT情况.
(2).将承认后的待测品置入恒温恒湿机内,以无包装,非操作状态下.
(3).设定温度次序为66±2 ℃坚持1小时, 33±2 ℃和湿度90±2%坚持1小时, -40±2 ℃坚持1小时, 25±2 ℃和湿度50±2%坚持30分钟,为一个循环.
(4).发动恒温恒湿机,然后记载其温度与时刻的图形,监督体系所记载的进程,
(5).实验完成后,温度回到室温再将待测物从恒温恒湿机中移出,放置样品在空气中4Hr再承认外观,结构及电气功能是否有反常.
五、注意事项:
(1).通过冷热冲击实验后产品的功能与外观不能呈现降级与退化现象.
(2).通过冷热冲击实验后产品的介电强度与绝缘电阻应契合规范书要求.
28.冷热冲击测验
一、意图:
测验高,低温度冲击对S.M.P.S.的影响,用来揭穿各组成元件的缺点.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). TEMP. CHAMBER /温控室;
(5). HI-POT TESTER /高压测验仪;
三.测验条件:
(1).依SPEC.要求:贮存最高(70℃),低温度(-30℃),测验共10个循环,高低温转化时刻为2min;
(2).依客户所供给的实验条件.
四、测验办法:
(1).在温控室内待测品由常温25 ℃向低温一般为-30 ℃改变,并低温烘烤1Hr.
(2).温控室由低温-30 ℃向高温一般为70 ℃改变,改变时刻为2min.,并高温烘烤1Hr.
(3).在高温70 ℃和低温-30 ℃之间循环10个周期后,温度回到常温将S.M.P.S.取出(至少康复4小时).
(4).承认待测品的标签、外壳、耐压和电气功能有无与测验前的差异.
五、注意事项:
(1).通过冷热冲击实验后产品的功能与外观不能呈现降级与退化现象.
(2).通过冷热冲击实验后产品的介电强度与绝缘电阻应契合规范书要求.
(3).产品为非操作条件.
28.冷热冲击测验
一、意图:
测验S.M.P.S.在规范耐压和时刻条件下,是否发生电弧ARCING,其CUT OFF CURRENT是否满意SPEC.要求,及是否会对S.M.P.S.形成损害.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). HI-POT TESTER /高压测验仪;
三.测验条件:
依SPEC.要求:耐压值(4242Vdc / 3000Vac)、操作时刻(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA)值;
四、测验办法:
(1).依SPEC.设定好耐压WITHSTANDING VOLTAGE,操作时刻TIME, CUT OFF CURRENT值.
(2).将待测品与耐压测验仪依要求衔接,进行耐压测验,调查是否有发生电弧ARCING,及漏电流CUT OFF CURRENT是否过大.
(3).耐压测验后,承认待测品输入功率与输出电压是否正常.
五、注意事项:
(1).测验前应先设定好耐压测验仪的测验条件,待测品的输入与输出别离应与测验仪触摸杰出.
(2).耐压的规范值设定参阅安规要求.
30.下跌测验
一、意图:
了解S.M.P.S.由必定高度,不同面进行下跌DROP,其结构,电气等特性的改变情况.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). HI-POT TESTER /高压测验仪;
三.测验条件:
依SPEC.要求:规则的下跌高度、下跌次数和刚硬的水平面.
四、测验办法:
(1).一切待测品需先通过电气上的测验及目视查看，以确保测验前没任何可见的损坏存在.
(2).承认六个面(小-大)次序顺次进行下跌.
(3).使待测品由规则的高度及项(2)所承认的测验点各进行一次下跌,每下跌一次均须对其电气及绝缘等进行承认,记载正常或反常成果.
31.绝缘阻抗测验
一、意图:
丈量待测物带电部件与输出电路之间和带电部件与胶壳之间的绝缘阻抗值.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
(3). AC POWER METER /功率表;
(4). HI-POT TESTER /高压测验仪;
三.测验条件:
(1).依SPEC.要求:施加500V直流电压后进行测验的绝缘阻抗值要高10MOhm(惯例则义).
四、测验办法:
(1).承认好电气功能后,在绝缘阻抗测验仪中设定好施加的电压(500Vdc)和测验的时刻(1 Minute).
(2).将待测物输入端和输出端别离短路衔接,然后别离衔接测验仪对应端进行测验.
(3).再将待测物输入端和外壳之间别离与测验仪对应端衔接进行测验.
(4).承认待测物的测验绝缘阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.
五、注意事项:
(1).阻抗要求值依安规规范要求界说.
32.额外电压输出电流测验
一、意图:
测验S.M.P.S.在AC LINE及OUTPUT VOLT.一守时,其输出电流值.
二.运用仪器设备:
(1). AC SOURCE /交流电源;
(2). ELECTRONIC LOAD /电子负载;
三.测验条件:
四、测验办法:
(1).固定输入电压与频率,依条件设定CV形式下的输出电压.
(2).开机后待输出稳守时记载输出电流值.
(3).切换输入电压与频率,记载不同输入电压时的输出电流值.
(4).在输出电压值不同条件下别离记载输出电流值.
五、注意事项:
记载输出电流值前待测品电流值需安稳.
