您的位置 首页 传感器

中规模集成电路功用测试仪设计方案详解

中规模集成电路功能测试仪设计方案详解-集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。

  集成电路的测验技能跟着集成电路开发运用的飞速开展而开展。集成电路测验仪也从开端测验小规划集成电路开展到测验中规划、大规划和超大规划集成电路集成电路测验仪按测验类别可分为:数字集成电路测验仪、存储器测验仪、模仿与混合信号电路测验仪、在线测验体系和验证体系等。现在市场上的测验仪产品功用较单一,价格十分贵重,给电路的测验、维护带来不方便。因而,研讨开发简略方便、具有必定智能化的集成电路测验仪有很高的实用价值。

  在高等学校的电子实验教学中,常常要用到如模数转化器(ADC)、数模转化器(DAC)、555集成守时电路、3524开关电源操控器等中规划集成电路。因为学生一般是初度触摸运用芯片,常常会因为操作不妥形成电路芯片的损害或损坏,而表面上却无法作出正确的判别。在这种状况下,十分需求有恰当的集成电路的测验仪,用于测验、判别芯片的好坏。而市面上又没有适宜的测验仪可供选购。因而,本文规划制作了可用于一些特定的中规划电路的测验仪。依据详细的需求选取了ADC0809、DAC0832、LM555、WC3524等几种芯片作为测验目标,并规划了相应的专门测验仪。

  测验仪的结构暗示框图如图1所示。该测验仪器的操控器采用了Atmel公司的八位单片机89C55,用于完结界面办理和自动检测操控功用[3].其间采用了Maxim公司的MAX197高精度的A/D转化器来完结模仿信号的测验[4].下面别离介绍各类器材的测验原理和办法。

  

  图1 测验仪结构框图

  1测验原理和测验电路

  测验一个器材的功用或特性参数,一般采纳该器材的典型运用电路,把功用表现出来,把参数值直接或间接地反映出来。

  1.1模数转化器ADC0809的测验

  模数转化器ADC0809的测验电路图如图2所示。依据测验电路,ADC0809的8个通道输入相同的模仿量,该模仿量相同也运送给MAX197.操控器挑选ADC0809的1个模仿通道,并宣布发动转化信号,使ADC0809开端转化,然后操控MAX197也开端转化。等候转化结束,别离读取两者的转化成果,并进行数值比较,依据差错限确认器材功用是否正常。改动通道持续测验,直到8个通道测验结束,显现其成果。

  

  图2 ADC0809的测验电路图

  1.2 DAC0832的测验

  D/A转化器DAC0832是8位二进制数模转化器,8个数字量输入端别离为DI7~DI0,其间DI7为MSB,DI0为LSB.它的模仿量输出端为电流输出IOUT1和IOUT2,当输入的数字量最大时,IOUT1端输出的电流最大;当输入的数字量为零时,输出电流最小。IOUT2端的电流输出状况正好相反。这两个端子能够和外部的运算放大器相接完成电流/电压的改换。此芯片内部还有1个反应电阻,能够作为外部运算放大器的反应电阻,DAC0832测验原理图如图3所示。芯片内有两级输入寄存器,使之具有双缓冲、单缓冲和直通3种输入方法,以适于各种电路的需求,例如要求多路D/A异步输入、同步转化等。

  

  图3 ADC0832测验电路

  由单片机运送1个8位的二进制数字量给DAC0832,使两级缓冲的写操控和片选操控都有用时,开端D/A转化,转化速度为微秒级。经过数模转化后,输出的电流再经过运放转化成电压,该电压经过MAX197转化成数字量读回到单片机中,然后和原输出的数字量相比较,以判别被测芯片正常与否。

  1.3 LM555守时电路的测验

  集成守时电路LM555的运用十分广,其测验电路如图4所示。这是一个典型的守时电路接法,用于测验内部的2个比较器和RS触发器是否正常,一起能够测验操控电压是否正常。

  

  图4 LM555测验电路

  单片机输出1个负脉冲到LM555芯片的第2引脚,触发守时电路。单片机读取守时电路的输出端信号,确认是否呈现相应的上升沿和下降沿,然后能够判别芯片的功用正常与否。

  1.4 SG3524的测验

  SG3524内部方框图如图5所示。输入直流电源UIN从15脚进入后分2路:一路作为放大器、比较器、振动器以及逻辑电路和操控电路的电源;另一路作为基准电压源,发生+5 V基准电压输出到16引脚,作为外部电压基准。在振动器部分的引脚7和引脚6上外接守时%&&&&&%CT和守时电阻RT,得到所需的振动频率。SG3524测验原理图如图6所示,连接成一个典型的降压型开关电源电路,使用差错放大器构成电压负反应。经过改动取样份额系数就能够改动输出电压,单片机经过测取引脚3上的脉冲频率,经过MAX197测取输出端的电压,即可判别SG3524芯片的好坏。测验中暂时没有考虑过流维护功用的测验。

  

  图5 SG3524内部方框图

  2操作和软件结构

  测验仪的根本作业流程是:接通电源后,电源指示灯亮,标明电源作业正常,显现器显现等候测验信息,标明能够开端测验操作。由按键1挑选所要测验的芯片,显现光标逗留的芯片类型表明是当时待测芯片。每按1次挑选键,光标指向下一个类型,不断地按键能够循环挑选。当光标移到所要测验的芯片时,按下确认键2,接下因由单片机操控,开端自动测验该芯片,此刻对应该芯片的指示灯亮;然后由外部电路或单片机给待测芯片必定的模仿或数字输入量,经过每个芯片的测验电路后,经过MAX197进行处理(或直接送到单片机),与单片机中预存的规范值进行比较。假如测验值在规范值邻近的必定范围内,则芯片正常,测验指示灯常亮,液晶显现器显现OK;不然,芯片犯错,测验指示灯闪耀,液晶显现器显现BAD.此芯片测验结束,按下复位键3,即回到初始状况,能够进行下一轮测验。软件流程图如图7所示。

  

  图6 SG3524测验原理图

  

  图7 软件流程图

声明:本文内容来自网络转载或用户投稿,文章版权归原作者和原出处所有。文中观点,不代表本站立场。若有侵权请联系本站删除(kf@86ic.com)https://www.86ic.net/yingyong/chuanganqi/173714.html

为您推荐

联系我们

联系我们

在线咨询: QQ交谈

邮箱: kf@86ic.com

关注微信
微信扫一扫关注我们

微信扫一扫关注我们

返回顶部