摘要：提出了一种安全可控的可测性规划DFT（Design For Test）。DFT既能够完成对SoC的测验，又能保证SoC本身灵敏信息和关键技术的安全。
关键词：可测性规划 集成电路 微体系芯片
一种安全可控的SoC可测性规划.pdf
一种安全可控的SoC可测性规划
提出了一种安全可控的可测性设计DFT（Design For Test）。DFT既能够完成对SoC的测试，又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。
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