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运放测试仪的制造

利用运算放大器输入的比较特性设计,制作运算放大器测试仪能够进行快速、准确地判测所测运放的好坏,在元器件选择中十分有用。笔者在指导学

运用运算放大器输入的比较特性规划,制造运算放大器测验仪可以进行快速、精确地判测所测运放的好坏,在元器件挑选中十分有用。笔者在辅导学生实训过程中。用此小仪器去挑选购买的运算放大器{包含部分拆机品}作用十分好。

电路原理

测验仪根本规划思路是将待测运算放大器(图中IC1,IC2,IC3,IC4)接成比较器结构.当V+>V-时,Vout为正电源状况.挨近Vcc,发光二极管Vd1发光。当V+<V-时,为负电源状况,挨近Vee,发光二极管Vd2亮。为此,用R1,R2设置V+=1/2(Vcc-Vee}=0[对E点电位],R3、R4、Rp组成V-电压偏置电路。向下调理Rp,但是V-<V+.Vdl发光;向上调理RP.可使V->V+.Vd2发光。电阻R5、R6、C1、C2构成电源割裂电路。将9V电源分红2*4.5V。使Ve=0v即Vdd=+4.5v,Vee=-4.5v.满意运算放大器双电源运用的要求。

电路中R7-R14为输入端串联电阻,意图是当测验多运算放大器时。其间某一运算放大器输入端损坏后不影响其他运算放大器的测验,电路规划顶用二个8脚,一个14脚DIP插座.然后满意通用型单,双,四运放的测验。测验仪原理见下图。

运放测验仪的调试

测验仪有二个八脚一个十四脚集成电路DIP插座,结合发光二极管和电源构成。插座1用于丈量单运放,7脚接电源正.4脚接电源负,2脚输入负.3脚输入正6脚输出。插座2丈量双运放,8脚为电源正,4脚为电源负,2,6脚输入负。3,5脚输入正.1,7脚为输出。插座3丈量四运放,4脚为电源正,11脚为电源负,2、6、9、13脚输入负3、5、10、12脚输入正1、7、8、14脚为输出。电路图中IC1、IC2、IC3是作为原理给于阐明。实际上插座1,插座2,插座3的接线应按以上进行衔接,只需接线正确,简直不必调试。R5、R6应尽或许持平.确保为虚地。R5、R6由所以电源裂变电阻又是发光二极管的限流电阻。可在200—510欧间挑选。阻值小,发亮光,耗电大。阻值大,发光弱,不易调查。R1、R2、R3、R4应尽或许持平.确保偏置为“地”。阻值在10k—100k中心挑选Rp为同数量级的线性电位器,在中心做一个刻度线,以便调理。(电路图上所标电阻的数值仅供参考,制造时可依据手中已有的电阻去做挑选)VD1-VD8挑选异色发光二极管便于区别。丈量前关掉电源,将刺进待测集成电路,单运放,双运放,四运放要别离刺进对应的插座中,留意管脚方位不能插反,然后闭合K调理Rp调查,依据发光管状况判其好坏,测验完后断电,取下集成电路。留意不能带电插拔集成电路,避免形成%&&&&&%的损坏。

运放测验仪运用方法

将被测单运放(IC1)刺进插座DIP1中,接通电源向下调理Rp,Vd1发光:向上调理Rp,Vd2发光,当RP处在中心方位时。输出为零,Vd1、Vd2发微光。在进行双运放测验时,把被测双运放(IC1.IC2)刺进插座DIP2中,向下调理Rp,Vd1、Vd3亮。向上调理Rp,Vd2、Vd4发光;在对四运放(IC1,IC2,IC3,%&&&&&%3)进行测验时。被测运放刺进插座DIP3中,向下调理Rp。Vd1、Vd3、Vd5、Vd7发光;向上调理Rp.Vd2、Vd4、Vd6、Vd8发光。测验中不必去寻觅中点,只需调查发光管的改变状况,就能判别其比较特性的好坏。关于多运放的测验。应当渐渐调理Rp.以便调查发光二极管的发亮光度及亮灭时刻差异来判别其多运放的共同特性。如果在测验中调理RP时只要一种状况,而不改变,阐明该运放已失掉比较特性而损坏,不能运用。

小结

笔者用此小仪器对单运放LM741.CA3140,CA3130,NE5534。双运放LM358,MC1458,TL062.TL082.四运放LM324,TL084,LM747进行了测验。作用抱负.特别是对拆机元件进行挑选,十分有用。

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