2602型双通道体系源表[1]
杂乱的DUT可能在测验夹具循环至下一个部件之前要求屡次的源鼓励信号和进行相应的呼应信号的丈量。缩短测验时刻的第一步可经过将独自功用的源－丈量仪器转变为集成式的SMU取得。这将削减触发延迟时刻以及在分立仪器和PC操控器之间的数据通讯时刻。假如SMU具有内部程序存储器[2]，这将进一步削减数据通讯时刻和PC履行测验程序的时刻，由于该SMU可从其本身的存储器中运转测验序列。
有些 SMU 具有可运转多达 100个预界说测验序列的程序存储器，在测验过程中，可进行极限比较、履行有条件的测验程序分支或许挑选与否 PC 操控器一起作业。选用这种类型的规划，易在单通道体系中取得在测验时刻上的明显改善。可是，办理多个触发器和测验序列是十分困难的，在多SMU体系中进行测验时刻的改善因而要杂乱得多。(拜见文后的“SMU 测验序列的优势”部分)
由于存在困难，所以多SMU体系规划可选用测验序列发生器，存储多个GPIB指令到SMU内，然后由PC操控器发简略的SCPI调用履行这些指令。在这样的规划中，体系没能供给所需的逻辑电路去履行极限测验或作出经过/失效判别，即没有与DUT 分选处理机的接口。因而，这类规划在数据通讯总线上仍有很多的GPIB通讯[3]。并且，多SMU体系并不能像它们在并行测验中那样能被有效地运用，相反，经常被次序拜访这些SMU，因而体系速度与吞吐量的添加不是很大。
现在，速度最快的SMU使用了测验脚本处理器和高速操控总线，多个SMU选用主从架构真实完成并行多通道操作。这种类型的规划现已用于吉时利的2601[4]和2602型数字源表（System SourceMeter?）仪器中。
