涂膜测厚仪在丈量前要做二点校准和零点校准，二点校准便是把规范膜片放在金属基片上测验，假如在答应差错就不需求进行二点测验，假如差错很大校准完毕后在测验规范片，直到显现的数据正常停止。零点校准便是将机器翻开调到零点校准的形式，在被测工件上测验然后完结就可以。
涂膜测厚仪的测验办法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。在做磁性测厚法的时分要注意以下八点
1.在进行磁性测厚法的时分要注意规范片团体的金属磁性和外表粗糙度应当与试件类似。
2.在丈量的时分要注意，侧头与试样外表坚持笔直。
3.在进行测验的时分要注意基体金属的临界厚度，假如大于这个厚度丈量就不受基体金属厚度的影响。
4.在丈量的时分要注意试件的曲率对丈量的影响。因此在曲折的试件外表上丈量时不可靠的。
5.丈量前要注意周围其他的电器设备会不会发生磁场，假如会将会搅扰磁性测厚法。
6. 丈量时要注意不要在内转角处和接近试件边际处丈量，由于一般的仪器试件外表形状的遽然改变很灵敏。
7.在丈量时要坚持压力的稳定，否则会影响丈量的读数。
8.在进行测验的时分要注意仪器测头和被测验件的要直接触摸，因此在进行对侧头铲除附着物质。
