上电循环测验非常重要，由于它测验的是用户环境。规划不良的体系板或芯片会形成上电循环测验失利。此外，对体系板工作台测验时，上电循环测验的设置或许需求选用沉重而贵重的商用电源。当你需求一起测验多块体系板时，状况愈加糟糕。
本规划实例描绘了一个简略而廉价的上电循环电路，它只用少数元件（图1）。电源输入电压来自一个廉价开关电源适配器的直流电。这种电源适配器一般为体系板供给电源。电路运用一个12V供电。将电源单元的插头刺进电源插座J1。所以来自J2的电路输出电压连接到体系板，去做上电循环。12V电源经过电阻R5和R6，它们用于约束经过继电器开关S1和S2的电流。
在上电起动时，继电器S2的触点为常闭，使来自R6的12V电源经过电阻R1和R2为电容C1充电。与晶体管Q2串联的电阻R8添加电容C1的充放电周期。一旦C1充电到2V，则晶体管Q2导通。这个动作是在晶体管Q2基射结上施加一个约0.7V的电压，使Q2导通。当晶体管Q2导通时，它为S2的线圈供给了一个低阻途径，因而为继电器赋能，使S2的触点2B闭合。
此刻，12V电源将其途径切换到触点2B，并使光耦的二极管导通，使内部晶体管导通。然后，光耦驱动晶体管Q1。当Q1导通时，它为S1的线圈供给一个途径，使继电器赋能，因而将12V电源连接到输出电压。电路将输出电压连接到体系板的电源上，使电路板上电。体系坚持通电约45s。在上电期间，%&&&&&%C1经过R2、Q2和R8缓慢放电。当晶体管基极上的电压低于晶体管的导通电压时，C1使晶体管Q2关断。然后，触点2B连接到触点2A，重复这个循环。
电路的关断时刻大约为17s。续流二极管D1和D2用于下降经过继电器线圈的电流快速变化时发生的瞬变大电压。
