WCDMA以及一切以频分多址（FDD）办法作业的终端设备一般都要考虑相邻和附近信道搅扰状况。在WCDMA的相关规范中，邻道走漏功率比测验对第一和第二相邻信道的相对功率电平做出了具体要求；别的简直一切无线电收发信终端设备都要求针对传导杂散进行测验，此项测验首要调查在射频衔接器（不经过天线）处，主板以传导办法发射出来的杂散信号，这些无用信号一般是由谐波发射、寄生发射和互调搅扰引起。
本期摩尔实验室（MORLAB）就将持续为您介绍2GHz WCDMA终端设备射频测验之邻道走漏功率比和杂散发射这两项测验。
（一）邻道走漏功率比
邻信道走漏功率比(ACLR)是用于衡量WCDMA终端的发射功能。其界说为主信道的发射功率与测得的相邻RF信道功率之比。该测验能够在综测仪（Agilent 8960或CMU200）上直接丈量，一般要求测验对高（9887）、中（9750）、低（9613）三个信道进行测验。一切测验要求还需在极限条件下进行重复，包含凹凸温文凹凸电压的各种组合。
1.测验意图：
验证根据调制的UE的邻道走漏功率比（ACLR）值不超越规范要求，防止超越目标要求的ACLR会增加对其他信道或其他体系的搅扰。
2.测验条件：
1）运用射频线将手机和体系模拟器衔接，需求留意RF线的补偿。
2）依照通用呼叫树立进程树立一个呼叫；
3）将UE置于环回测验形式进行测验。
3.测验进程：
1）设置接连上升TPC指令使得UE的输出功率到达最大；
2）用带宽为当时载频的匹配滤波器测验功率；
3）用根升余弦匹配滤波器测验第一和第二相邻信道的功率；
4）核算（3）测验值与（2）测验值的比值；
4.限值要求
5.测验成果举例:
（二）杂散发射
传导杂散发射测验一般需求在射频测验体系上进行，此项测验需求用到基站模拟器、频谱分析仪、主频陷波器、带通滤波器和衰减器等。单台综测仪是无法完结此项测验的。
该测验要求在常压和高、低电压下进行，测验信道仍为上述3个信道，这点与GSM相关规范有点差异，由于GSM终端只要求测验中心信道的传导杂散。测验时被测终端设备处于最大发射功率状况。
1.测验意图
验证UE杂散辐射值不超越规范要求，防止超越目标要求的杂散辐射增加对其他体系的搅扰。
2.测验条件
1）依照下图树立UE天线衔接器与体系模拟器的衔接；
2）依照通用呼叫树立进程树立一个呼叫；
3）将UE置于回环测验形式下进行测验。
3.测验办法
1）设置设置接连上升TPC指令使得UE的输出功率到达最大；
2）在规则的频率范围上用频谱分析仪测验杂散的平均功率；
4.测验限值
5.测验成果举例
以上是摩尔实验室（MORLAB）关于WCDMA射频测验的邻道走漏功率比和杂散发射两项测验的简略介绍，欢迎重视后续更多射频测验介绍。
