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一种IGBT元件自损快速检测新方法

IGBT元件往往采用多并联形式,因此如果某个IGBT元件发生故障,将会导致并联回路中的大量IGBT损坏。而常用的快速检测方法中或多或少存在着一些无法避免的缺点,因此需要一种新的快速检测法来满足满足IG

IGBT元件往往选用多并联办法,因而假如某个IGBT元件产生毛病,将会导致并联回路中的很多IGBT损坏。而常用的快速检测办法中或多或少存在着一些无法防止的缺陷,因而需求一种新的快速检测法来满意满意IGBT维护的实践要求。

IGBT元件维护几种办法以及优缺陷

由于IGBT元件电流、电压才干的约束,在实践运用的大容量传动装置体系中,往往选用多并联办法。假如产生某个IGBT元件击穿等短路毛病时,若不及时快速封闭IGBT脉冲,就可能导致并联回路中很多IGBT损坏,扩展毛病规模。

在传动装置体系中,进、出线主回路一般都设置有霍尔ct,用于检测主回路电流,并通过主控板的硬件和软件来处理、判别过流状况。假如宣布重毛病跳闸信号,就要快速封闭脉冲,维护IGBT元件。其长处是对负载引起的过流维护效果比较显着,但缺陷是过流检出到脉冲封闭的进程时刻太长,需求几个毫秒,并且直流回路的短路也维护不了(实践体系中没有直流回路电流检测ct)。因而,仅靠该维护办法显着不能满意IGBT维护的实践要求。

为此,还必须采纳其它的快速检测办法。现在常用的办法有以下几种:

1、IGBT vce电压监测法

这是比较常用的办法。运用集电极电流ic升高时vge或vce也会升高的这一现象,当vge或vce超越设定答应值时,输出信号去封闭IGBT的脉冲。由于vge在产生毛病时改变较小,难以把握,一般较少运用。而vce的改变较大,因而实践中一般常常选用vce监测法来对IGBT进行维护。这种办法的长处是检测活络,动作敏捷,有效地防止了并联回路IGBT大面积损坏。但这种办法的缺陷也比较显着:需求配线,将每个IGBT的集电极与发射极之间的电压信号引进脉冲驱动板。别的由于IGBT关断时,集电极与发射极之间的电压比较高,需求添加脉冲放大板相应的绝缘与电位阻隔办法。图1是运用检测集电极与发射极之间电压vce对IGBT进行维护的一个比如。



图1:vce电压监测以及维护的原理

2、IGBT门极电压fb监控法

通过监控IGBT元件的门极电压vge来判别IGBT元件是否损坏。假如判别出IGBT元件损坏,当即快速封闭传动装置中的一切IGBT元件,其原理如图2所示。这种办法的长处是结构简略,比较有用。缺陷是只有当某个IGBT损坏时才干判别出,对一般的过流不起效果。并且,由于IGBT损坏短路时,由于放大板上电容的效果,门极电压vce改变缓慢,一般需求通过1ms左右的推迟才干正确判别和封闭脉冲,如图3所示。在这期间,并联回路很多IGBT就可能遭到危害,扩展了毛病规模。



图2:门极电压检测以及维护原理图



图3:IGBT损坏时门极电压改变及检出

3、一种新式IGBT元件自损快速检测法(即门极电流ig检测法)

当IGBT元件损坏时,门极与发射极之间也被击穿,但由于结%&&&&&%的效果,门极电压改变缓慢。但依据电路理论i=cdu/dt可知,门极电流ig改变比门极电压vge快得多。因而,能够归纳IGBT的门极脉冲指令与门极电流来精确、快速地判别IGBT是否损坏。一旦检测到某个IGBT损坏,当即封闭IGBT脉冲指令,能完全防止并联回路很多IGBT损坏,不会扩展毛病规模。详细原理图如图4所示。

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