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根据ATE的FPGA测验

随着集成电路技术的飞速发展,FPGA的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛重视和研究。文章简要介绍了FPGA的发展及其主要组成部分,提出了一种用ATE对FPGA进行测试的方法和具体测试流程。

跟着集成电路技能的飞速开展,FPGA的使用越来越广泛,其测验技能也得到了广泛注重和研讨。文章扼要介绍了FPGA的开展及其首要组成部分,提出了一种用ATE对FPGA进行测验的办法和详细测验流程。以一段Xilinx XC3042的实在装备数据为例详细描述了Intel HEX文件格局,以及将其转换成二进制装备码的办法,并介绍了FPGA的装备码格局和装备数据长度的计算办法。然后,以外设装备形式为例,经过XC3042的装备电路原理图和装备时序详细描述了FPGA的装备原理;最终给出了选用ATE(Automatic Test Equipment)-J750对FPGA的装备与测验进程,为FPGA的通用测验供给了一种切实可行的有用办法。

根据ATE的FPGA测验.pdf

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