对无线电管理作业来说，杂散发射是发生搅扰的重要原因. 在无线电发射设备检测过程中，杂散测验是一个重要的必测项目。杂散是指在作业带宽外某个频点或某些频率上的发射，其发射电平可下降但不影响相应的信息传递。 包含：谐波发射、寄生发射、互调产品、以及变频产品，但带外发射在外。在射频测验中，杂散发射测验是一个根底测验项目，首要包含传导杂散测验和辐射杂散测验。下面首要谈一下辐射杂散的一些影响要素。
辐射型杂散是指由于机箱(或机柜)以及设备的结构而引起的任何杂散辐射，首要是指由EUT的机壳、结构及互联电缆引起的杂散打扰。所以说EUT的整机规划，天线质量，外壳材料及外表工艺的影响对辐射杂散存在必定的影响。在测验过程中，曾遇到许多不同要素的影响，比方：EUT机壳的金属框，喇叭的金属网，按键板的影响等等。可是这些仅仅外壳材料及外表工艺的影响，整机的规划、屏蔽占有更重要的方位。
咱们在杂散测验过程中遇到过许多由于屏蔽问题而消耗很多时刻的项目. 摩尔实验室(MORLAB)曾有一个项目, 被测物(EUT)在传导杂散测验中目标杰出,并有10dB的余量，可是在辐射杂散测验中，其2次谐波却超支了10dB。咱们对其进行了OTA测验，也发现TRP目标不是很抱负。初始以为是天线匹配问题，经过运用网络分析仪咱们修改了天线匹配。测验后发现TRP目标有了改进，可是在暗室测验辐射杂散目标并没什么改进。经过跟我资深EMC工程师的交流，了解一个经过选用了环形天线（如图一）来勘探搅扰源的办法。终究发现是PA屏蔽欠好，使发射出来的信号很简单倍频到高次谐波上构成强搅扰。修改后, 再进行测验,辐射目标到达了10dB的余量。从这个比如咱们能够看出屏蔽的重要性。 图一
图2所示是导致EMC功能不良的或许原因，能够依据这个来找出问题地点,并选用环形天线勘探搅扰源的办法（结构图, 如图3）寻觅搅扰源：
图三
环形天线与频谱分析仪的射频电缆衔接，设置频谱仪在适宜的SPAN，并将频谱仪设置为寻觅并坚持最大轨道点，方便地确认辐射源的方位和特性、辐射走漏的详细部位和强度。这样不仅能找出屏蔽作用欠好的当地，使得在整机规划时运用更好的计划。
图二
MORLAB在OTA的测验中也呈现过相似的状况，其测验频段包含GSM850、PCS1900，在测验中GSM850目标很好，可是PCS1900的目标很差。测验样品是一个手机底座，所以为了查出是哪个部分的影响，咱们把底座的按键板、喇叭网、喇叭及其他的一些隶属器材一个一个装置上去进行测验，终究发现装置上调谐器之后，测验成果比没装置上去的成果相差到达7dB。仔细检查发现是调谐器的屏蔽未能做好，调谐器屏蔽的作用欠好, 直接影响了其在测验频率上呈现串扰, 使得测验成果不抱负。经过相应修改后, 测验成果到达规范要求。
