一、S 参数丈量中何时需求去嵌？
关于适当多的被测验产品，如接插件、运用插槽的电路板等都需求运用专门的夹具才干进行S 参数测验，这是由于这些被测件的接口一般对错SMA 或许BNC 等通用接口类型的，而S 参数测验仪器如SPARQ、VNA 等仪器的衔接接口一般都是SMA 或许BNC 等规范类型的，因而被测件和测验仪器的衔接需求辅佐夹具。如下图1 所示为一些需求夹具才干够进行S 参数测验的被测件（左下脚图片为Teledyne LeCroy（力科）的信号完整性S 参数测验仪）：
下图2 所示为运用一个夹具进行接插件测验的示意图：
夹具的运用必定会给被测件的S 参数测验成果带来影响。假如相关于被测件DUT 自身来说，夹具的影响十分小，则可以疏忽，或许若是将整个体系（包含被测件DUT 和夹具）一同进行考虑，需求的是S 参数和被测件DUT 的全体功能，那么夹具的影响也是可以不必考虑的。可是假如夹具的损耗和被测件DUT 的损耗适当，那么夹具的影响往往是不行疏忽的，这时分咱们就需求考虑运用一些办法来消除夹具给测验带来的影响。
二、现有的夹具去嵌办法及不足之处
当时针对S 参数丈量中夹具的去嵌主要有如下几种办法：
1、根据夹具的S 参数的去嵌办法
该办法运用起来十分便利，只要将夹具的S 参数带入到测验仪器校准剖析软件中即可完成对夹具的去嵌，可是一个夹具的S 参数往往并不简单得到，如测验时用到的探头，S 参数不只很难得到，并且即便探头厂家有供给探头的S 参数，在实践测验中也往往会由于衔接办法，点触方向等导致探头S 参数发生变化，也会影响到测验成果的准确性。
2、TRL 校准办法
TRL（Through/Reflect/Line）校准办法也是现在业界用得比较遍及的一个校准办法，适合于校准比较复杂的传输线结构的夹具。TRL 夹具需求测验人员提早规划准确的包含Through（直通）、Reflect（反射）、Line（线）的夹具，TRL 夹具有必要要和实践运用单板的各项参数相共同，比方印制电路板的叠层、各叠层的厚度、所用资料的介电常数、传输线的阻抗操控、线宽等等。而这关于两个可能是不同时分规划和出产的不同单板来说，操控得十分共同是比较困难的。此外，夹具上的衔接器磨损也会影响到校准成果。
3、OSLT 校准
OSLT（Open/Short/Load/Through）校准办法是规范的校准办法，S 参数测验仪器一般会标配有该办法，OSLT 校准办法的缺陷是需求一整套规范的校准件，它的接口也一般是SMA或许是BNC 接口的，并且它需求夹具的结尾接口（夹具与被测件DUT 相衔接的接口）类型也是SMA 或许BNC 的，而绝大部分测验夹具都不具有这样的要求，假如规划嵌入式的OSLT 用于校准，除了存在和TRL 校准相似的问题外，还会存在其它潜在的差错源，如将Short，Open 视为抱负景象，将Load 视为非频率相关的。
4、
是在Teledyne LeCroy（力科）的信号完整性S 参数剖析仪SPARQ 中和OSLT 相同的一种办法。
5、时域Gating 校准（Time Domain Gating）
时域Gating 校准办法是Teledyne LeCroy（力科）用于SPARQ 中的一种最新的校准技能，也是力科最新的一项专利技能。该办法可以削减上述校准办法所存在的缺陷，并且具有操作便利的长处，也十分适合于运用探头进行S 参数测验时对探头的校准。
别的，运用根据S 参数的校准办法、TRL 校准办法、OSLT 校准办法、办法对探头的去嵌也是S 参数测验中的别的一个难点，由于探头模型难以在PCB 板上模仿出来。下图3 所示的Gigaprobes 是S 参数测验中常用的探头：
三、运用于力科SPARQ 中的新一代时域“Gating”去嵌办法
下图4 所示为S 参数测验仪器经过夹具对被测件DUT 进行测验的一般拓扑结构。
从上图4 可见，关于一个具有P 个端口的被测件DUT，将需求2P 个端口的夹具，其间P 个端口与测验仪器的P 个端口相衔接，别的P 个端口与被测件DUT 相衔接。假如知道具有2P 个端口的夹具的S 参数，那么对夹具的去嵌将变得十分简单。如Teledyne LeCroy（力科）公司的信号完整性S 参数剖析仪中就集成了根据S 参数的夹具去嵌办法。如下图5 所示，只要将夹具所对应的：*.snp 的S 参数文件带入到图5 的界面设置中即可完成关于夹具的去嵌。可是正如前文所述，获取夹具的S 参数是要害。
