74LS164串转并试验
本试验是用74LS164把输入的串行数转化成并行数输出，74LS164为串行输入并行输出移位寄存器，其引脚图及功用如下：
A、B：串行输入端；
QA～QH：并行输出端；
CLR：清零端，低电平有用；
CLK：时钟脉冲输入端，上升沿有用。
试验选用单片机串行作业方法0和P1端口两种方法串行输出数据。串行口作业方法0时，数据为8位，从RXD端输出，TXD端输出移位信号，其波特率固定为Fosc/12。在CPU将数据写入SBUF寄存器后，当即发动发送。待8位数据输完后，硬件将状况寄存器的TI方位1，TI必须由软件清零。
串行口作业方法0数据/时钟是主动移位输出，用P1端口输出数据时，要编程位移数据，每输出一个数据位，再输出一个移位脉冲。
内容及进程：
本试验需求用到单片机最小体系（F1区）、十六位逻辑电平显现（I4区）和74LS164（G3区）。
1、选用89C51单片机最小使用体系模块，用八位数据线衔接74LS164的并行输出JD5G与十六位逻辑电平显现模块JD2I，将74LS164的串行输入端A/B（1和2脚）接到RXD上，CLK接到TXD上，CLR接INT0。
2、用串行数据通信线衔接计算机与仿真器，把仿真器插到模块的锁紧插座中，请留意仿真器的方向：缺口朝上。
3、翻开KeiluVision2仿真软件，首要建立本试验的项目文件，接着增加“TH23_74164.ASM”源程序，进行编译，直到编译无误。
4、全速运转程序，调查发光二极管亮灭状况，先右移动两次，再左移动两次，然后闪耀两次。
5、也能够把源程序编译成可执行文件，用ISP烧录器烧录到89S52/89S51芯片中。
74LS164串进并出试验及165并串转化试验
试验内容
1、用74LS164芯片扩展并行输出口，本试验中咱们用74LS164扩展两个8位输出口的接口显现电路，两位数码管循环显现00~99之间的数字。
2、使用试验体系上的74LS165芯片，编程完成8位数据并行输入，串行口串行接纳，并将接纳的数据存放在CPU内部存储区50H~59H中，共10个数据。（并行输入数据由P1口来送入）
编程攻略
1、74LS164串进并出试验。
（1）本试验中MCS-51单片机串行口作业在方法0（移位寄存器方法，用于并行I/0口扩展）的发送状况时，串行数据由P3.0（RXD）送出，移位时钟由P3.1（TXD）送出。在移位时钟的效果下，串行口发送缓冲器的数据一位一位地移入74LS164中。需求指出的是，因为741S164无并行输出操控端，因而在串行输入进程中，其输出端的状况会不断改变，故在某些使用场合，在74LS164的输出端应加接输出三态门操控，以便确保串行输入结束后再输出数据。
（2）74LS164引脚功用表
2、165并串转化试验。
（1）74LS165芯片引脚图
管脚阐明：
D0throughD7–Parallelinputs
SI–Serialinput
Q7，/Q7–Dataoutputs
CLK–Clock
CKIN–Clockinhibit
S/L–（高有用）Shift/Parallel-loadcontrol（低有用）
（2）编程阐明
74LS165是8位并行置入移位寄存器。当移位/置入端（S/L）由高到低跳变时，并行输入端的数据被置入寄存器；当S/L=1，且时钟制止端（第15脚）为低电平时，答应时钟输入，这时在时钟脉冲的效果下，数据由D0到D7方向移位。如下的电路原理图中，TXD（P3.1）作为移位脉冲输出端与一切74LS165的移位脉冲输入端CP相连；RXD（P3.0）作为串行输入端与74LS165的串行输出端Q7相连；P3.2用来操控74LS165的移位与置入而同S/L相连；74LS165的时钟制止端（15脚）接地，表明答应时钟输入。当扩展多个8位并行输进口时，两芯片的首尾（Q7与Sin）相连。
试验接线图
1、74LS164串进并出试验
2、165并串转化试验
试验进程
1、在74LS164串进并出试验中，用双头线衔接，P3.0接插孔A/B，P3.1接插孔CP，P1.0接插孔/CLR，调入程序运转，两位数码管上循环显现数字00~99。下面是74LS164串进并出程序运转仿真的状况：
2、在165并串转化试验中，P1.0~P1.7接D7~D0，P3 .0接Q7，P3.1接CP，P3.2接S/L。调入程序165.ASM，编译、装载、运转。检查CPU内部存储器50H~59H中的数据是否为01H~0AH（留意改写存储器）。下面是165并串转化程序仿真运转的状况：
程序
1、74LS164串进并出试验程序
ORG 0000H
LJMP MAIN
ORG 0100H
MAIN： MOV 30H，#00H ;给显现缓冲区赋初值
MOV 31H，#00H
L0： SETB P1.0 ;164清零端‘CLR’置1（低电平有用）
INC 30H
MOV A，30H
CJNE A，#0AH，AA
MOV 30H，#00H
INC 31H
MOV A，31H
CJNE A，#0AH，AA
MOV 30H，#00H
MOV 31H，#00H ;使31H，30H单元内容在00~99循环改变
AA： MOV SCON，#00H ;设置串行口
MOV R7，#02H ;设置要发送的字节个数
MOV R0，#30H ;设置地址指针
MOV DPTR，#TAB
LOOP： MOV A，@R0
MOVC A，@A+DPTR ;取出字型码
MOV SBUF，A ;发送
WAIT： JNB TI，WAIT ;等候一帧发关结束
CLR TI
INC R0 ;指向下一个字形码
DJNZ R7，LOOP
MOV R2，#30H ;调用延时子程序
LCALL DELYA
CLR P1.0 ;164清零端‘CLR’置0（低电平有用）
SJMP L0
TAB： DB 3FH，06H，5BH，04FH，66H，6DH，7DH，07H，7FH，6FH ;七段LED段选码（共阴极）
DB 77H，7CH，39H，5EH，86H，8EH，0FFH，0F1H，0C6H，092H，0BFH
DELYA： PUSH 02H ;延时子程序
DELYB： PUSH 02H
DELYC： PUSH 02H
DELYD： DJNZ R2，DELYD
POP 02H
DJNZ R2，DELYC
POP 02H
DJNZ R2，DELYB
POP 02H
DJNZ R2，DELYA
RET
END
2、165并串转化试验程序
ORG 0000H
LJMP MAIN
ORG 0500H
MAIN： MOV R7，#10 ;设置并行读入数据个数为10个
MOV R0，#50H ;设置内部RAM数据区首址，接纳外部并行输入数据
MOV 40H，#00H
START： INC 40H
MOV P1，40H ;将P1口输出的数据作为74LS165的并行输入
CLR P3.2 ;并行置入数据，S/L=0
SETB P3.2 ;答应串行移位，S/L=0
RXDATA： MOV SCON，#10H ;设串行口方法0，答应接纳，发动接纳进程
WAIT： JNB RI，WAIT ;未接纳完一帧，循环等候
CLR RI ;清RI标志，预备下次接纳
MOV A，SBUF ;读入数据
MOV @R0，A ;送至RAM缓冲区
INC R0 ;指向下一个地址
DJNZ R7，START ;10个数据未读完从头并行置入
SJMP $ ;10个数据读完，程序就地循环
END ;检查CPU内部存储区50H~59H数据是否为01~0AH
