在世界测验大会上，英特尔公司副总裁兼副总经理Gadi Singer在题为“应对频谱纳米技术和千兆杂乱性的应战”的讲演中指出，从1940年以来，每立方英尺MIPS或每磅MIPS数每10年就添加100 倍。虽然在滑润的曲线上一向是以指数规则改变，可是，在那个时期仍然有许多不连续性和变形点。
“现在，四个不同的趋势正延伸在一切方向中的曲线，”Singer说道。首要，IC杂乱性和多样性正遭到智能(便携式)设备的呈现的唆使。这些新的规划包括杂乱的内核、多处理引擎、更多的存储区、专用的子体系以及在片上的多个通讯体系。此外，Singer表明，“互联网的影响”证明数字数据的交融的影响浸透到了一切的功用之中，而且需求添加硬件和软件的互动。”
明显，Singer表明，这种下一代体系级芯片需求在测验开发工具和技术上做出改善。扫描办法存在速度问题，而且正在挨近极限。功用测验办法的自动化程度不行，而且不成规范。内建自测验(BIST)关于存储器测验而言形式有限，而逻辑BIST跟着芯片面积的添加而越来越贵重。改善这种情况的仅有办法便是：让一种针对X办法的集成规划—X指的是测验、制作、良率及可靠性与即插即用的模块性、可装备性以及针对一切IP模块的可修正测验处理方案结合起来。
其次，功耗和功用正在朝着更低功耗和固定的预算跨进。“下一代芯片”他弥补说，“将需求在稳定的功率封包内展现更多的功用，而规划变量将有必要合适不同的功率预算。”针对功率的测验和针对功用的维护在必定的功率级将是至关重要的。惋惜的是，该职业需求的处理方案比现有的处理方案还要多，由于测验将有必要处理功率测验、在速功率测验以及作为电池寿射中因子的在作业负载测验。
第三个范畴便是纳米科技。摩尔定律可能在能够预见的将来仍然有用，即便在缩放技术上的立异将跟资料范畴的立异相同多。“即便在测验范畴需求更多的立异，”Singer说，缩放导致每个裸片中的三极管和功用的添加，虽然也形成裸片内和裸片间可变性的添加。将来的规划将需求在规划和测验上进步对各种改变的灵敏度，与此同时，IP有必要宽恕制作可变性。Singer指出，“人们要选用自适应测验办法来处理可变性问题以及由此而来的规划灵敏度问题。”
最终，一切这种应战性的作业有必要在较少的时刻内完结，Singer表明，“总的报答时刻(TAT)是从规划到原型再到出产搬运的要害标准。短的产品窗口将需求迟束缚—取决于在规划周期中最终一分钟的完成细节。”规划正给测验开发才能带来严峻的应战。半导体职业需求快速和买得起的测验开发才能，以保证末级的重新装备。
