导言
跟着技能的开展,移动电子设备已成为咱们日子和文明的重要组成部分。平板电脑和智能手机触摸技能的运用,让咱们能够与这些设备进行更多的互动。它构成了一个完好的静电放电 (ESD) 风险环境,即人体皮肤对设备产生的静电放电。例如,在运用消费类电子设备时,在用户手指和平板电脑 USB 或许 HDMI 接口之间会产生 ESD,然后对平板电脑产生不可逆的损坏,例如:峰值待机电流或许永久性体系失效。
本文将为您解说体系级 ESD 现象和器材级 ESD 现象之间的差异,并向您介绍一些供给 ESD 作业维护的体系级规划办法。
体系级ESD维护与器材级ESD维护的比照
IC 的 ESD 损坏可产生在任何时候,从安装到板级焊接,再到终端用户人机互动。ESD 相关损坏最早可追溯到半导体开展之初,但在 20 世纪 70 时代微芯片和薄栅氧化 FET 运用于高集成 IC 今后,它才成为一个遍及的问题。一切 IC 都有一些嵌入式器材级 ESD 结构,用于在制作阶段维护 IC 免受 ESD 作业的损坏。这些作业可由三个不同的器材级模型进行模仿:人体模型 (HBM)、机器模型 (MM) 和带电器材模型 (CDM)。HBM 用于模仿用户操作引起的 ESD 作业,MM 用于模仿主动操作引起的 ESD 作业,而 CDM 则模仿产品充电/放电所引起的 ESD 作业。这些模型都用于制作环境下的测验。在这种环境下,安装、终究测验和板级焊接作业均在受控 ESD 环境下完结,然后减小露出器材所接受的 ESD 应力。在制作环境下,IC 一般仅能接受 2-kV HBM 的 ESD 电击,而最近出台的小型器材静电规则更是低至 500V。
虽然在厂房受控 ESD 环境下器材级模型一般已满足,但在体系级测验中它们却差得很远。在终端用户环境下,电压和电流的ESD电击强度要高得多。因而,工业环境运用另一种办法进行体系级 ESD 测验,其由 IEC 61000-4-2 规范界说。器材级 HBM、MM和CDM 测验的意图都是确保 IC 在制作进程中不受损坏;IEC 61000-4-2规则的体系级测验用于模仿实际国际中的终端用户ESD作业。
IEC 规则了两种体系级测验:触摸放电和非触摸放电。运用触摸放电办法时,测验模仿器电极与受测器材 (DUT) 坚持触摸。非触摸放电时,模仿器的带电电极挨近 DUT,同 DUT 之间产生的火花促进放电。
表 1 列出了 IEC 61000-4-2 规范规则的每种办法的测验等级规模。请留意,两种办法的每种测验等级的放电强度并不相同。咱们一般在4级(每种办法的最高官方标称等级)以上对应力水平进行逐级测验,直到产生毛病点停止。
表 1 触摸放电和非触摸放电办法的测验电平
触摸式放电电平 |
测验电压 (±kV) |
非触摸式放电电平 |
测验电压(±kV) |
1 |
2 |
1 |
2 |
2 |
4 |
2 |
4 |
3 |
6 |
3 |
6 |
4 |
8 |
4 |
8 |
器材级模型和体系级模型有一些显着的差异,表 2 列出了这些差异。表 2 中最终三个参数(电流、上升时间和电击次数)需特别留意:
- 电流差关于 ESD 灵敏型器材是否能够接受一次 ESD 作业至关重要。因为强电流可引起结点损坏和栅氧化损坏,8-kV HBM 维护芯片(峰值电流5.33A)或许会因 2-kV IEC 模型电击(峰值电流 7.5A)而损坏。因而,体系规划人员不能把 HBM 额外值同 IEC 模型额外值混杂,这一点极为重要。
- 另一个差异存在于电压尖峰上升时间。HBM 的规则上升时间为 25ns。IEC 模型脉冲上升时间小于 1ns,其在开始 3ns 消耗掉大部分能量。假如 HBM 额外的器材需 25ns 来做出呼应,则在其维护电路激活曾经器材就已被损坏。
- 两种模型在测验期间所用的电击次数不同。HBM仅要求测验一次正电击和一次负电击,而 IEC 模型却要求 10 次正电击和 10 次负电击。或许呈现的状况是,器材能够接受第一次电击,但因为初度电击带来的损坏依然存在,其会在后续电击中失效。图 1 显现了 CDM、HBM 和 IEC 模型的 ESD 波形举例。很显着,比较一切器材级模型的脉冲,IEC 模型的脉冲携带了更多的能量。
表 2 器材级模型与 IEC 体系级模型比较
图 1 器材级和 IEC 模型的 ESD 波形
TVS 怎么维护体系免受 ESD 作业的危害
与 ESD 维护集成结构不同,IEC 61000-4-2 规范规则的模型一般会运用离散式独立瞬态电压按捺二极管,也即瞬态电压按捺器 (TVS)。比较电源办理或许微控制器单元中集成的 ESD 维护结构,独立 TVS 本钱更低,而且能够挨近体系 I/O 连接器放置,如图 2 所示。
图 2 体系级 TVS 布局
共有两种 TVS:双向和单向(参见图 3)。TI TPD1E10B06 便是一个双向 TVS比如,它能够放置在一条通用数据线路上,用于体系级 ESD 维护。正常作业状态下,双向和单向 TVS 都为一个开路,并在 ESD 作业产生时接地。在双向 TVS 状况下,只需 D1 和 D2 都不进入其击穿区域,I/O 线路电压信号会在接地电压上下摇摆。当 ESD 电击(正或许负)击中 I/O 线路时,一个二极管变为正向偏置,而另一个击穿,然后构成一条通路,ESD 能量当即沿这条通路接地。在单向 TVS 状况下,只需 D2 和 Z1 都不进入其击穿区域,则电压信号会在接地电压以上摇摆。当正ESD电击击中I/O线路时,D1变为正向偏置,而Z1 先于 D2 进入其击穿区域;经过 D1 和 Z1 构成一条接地通路,然后让 ESD 能量得到耗散。当产生负 ESD 作业时,D2 变为正向偏置,ESD能量经过 D2接地通路得到耗散。因为 D1 和 D2 尺度能够更小、寄生电容更少,单向二极管可用于许多高速运用;D1 和 D2 能够“躲藏”更大的齐纳二极管 Z1(大尺度的原因是处理击穿区域更多的电流)。
图 3 双向和单向 TVS
体系级 ESD 维护的要害器材参数
图 4 显现了 TVS 二极管电流与电压特性的比照状况。虽然 TVS 是一种简略的结构,可是在体系级 ESD 维护规划进程中依然需求留意几个重要的参数。这些参数包含击穿电压 VBR、动态电阻 RDYN、钳位电压 VCL 和电容。
图 4 TVS 二极管电流与电压的联系
击穿电压
正确挑选 TVS 的第一步是研讨击穿电压 (VBR)。例如,假如受维护 I/O 线路的最大作业电压 VRWM 为 5V,则在到达该最大电压曾经 TVS 不该进入其击穿区域。一般,TVS 产品阐明书会包含详细漏电流的 VRWM,它让咱们能够愈加简单地挑选正确的 TVS。不然,咱们能够挑选一个 VBR(min) 大于受维护 I/O 线路 VRWM 几伏的 TVS。
动态电阻
ESD 是一种极速作业,也便是几纳秒的作业。在如此短的时间内,TVS 传导接地通路不会当即建立起来,而且在通路中存在必定的电阻。这种电阻被称作动态电阻 (RDYN),如图 5 所示。
图 5 ESD 电流放电通路
抱负状况下,RDYN 应为零,这样 I/O 线路电压才干尽或许地挨近 VBR;可是,这是不或许的作业。RDYN 的最新工业规范值为 1 Ω 或许 1 Ω 以下。运用传输线路脉冲丈量技能能够得到 RDYN。运用这种技能时,经过 TVS 开释电压,然后丈量相应的电流。在得到不同电压的许多数据点今后,便能够制作出如图6相同的 IV 曲线,而斜线便为 RDYN。图 6 显现了 TPD1E10B06 的 RDYN,其典型值为 ~0.3 Ω。
图 6 TPD1E10B06 的 IV 特性
钳位电压
因为ESD是一种极速瞬态作业,I/O 线路的电压不能当即得到箝制。如图 7 所示,依据 IEC 61000-4-2 规范,数千伏电压被箝制为数十伏。如方程式 1 所示,RDYN 越小,钳位功能也就越好:
其间,IPP 为 ESD 作业期间的峰值脉冲电流,而 Iparasitic 为经过 TVS 接地来自连接器的线路寄生电感。
图 7 8Kv 触摸放电的 ESD 作业钳位
把钳位电压波形下面的区域想像成能量。钳位功能越好,受维护ESD灵敏型器材在ESD作业中遭到损坏的机率也就越小。因为钳位电压很小,一些TVS可接受IEC模型的8kV触摸式放电,可是“受维护”器材却被损坏了。
在正常作业状态下,TVS为一个开路,并具有寄生电容分流接地。规划人员应在信号链带宽预算中考虑到这种电容。
定论
因为 IC 工艺技能节点变得越来越小,它也越来越简单遭到 ESD 损坏的影响,不管是在制作进程仍是在终端用户运用环境下。器材级 ESD 维护并不足以在体系层面为 %&&&&&% 供给维护。咱们应在体系级规划中运用独立 TVS。在挑选某个 TVS 时,规划人员应留意一些重要参数,例如:VBR、RDYN、VCL 和%&&&&&%等。
参考文献
《体系级ESD/EMI维护规划攻略》 www.ti.com/lit/SSZB130B
相关网站
ESD解决方案:http://www.ti.com.cn/product/cn/TPD1E10B06
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