测验介绍
此测验触及在输入端处于VDD或VSS而且输出端未衔接时，丈量CMOS IC的VDD电源耗电流。图1是一个CMOS反相器的测验设置框图。在这个比如中，2601/2602用于源电压（VDD）并丈量产生的静态电流。
图1. 丈量一个CMOS反相器的静态电流
尽管这个比如示出的IC只要一个栅极，可是许多IC具有数以千计的栅极。因而，一般要运用预订的一系列测验向量（即施加至输入端的逻辑1和0的形式）削减静态电流的丈量次数，而且有必要保证悉数栅极都被切换或许所需IC逻辑状况都经过测验。
在整个测验中对IC的VDD引脚施加稳定电压使IC保持在作业状况。一个好的CMOS器材仅在开关时从VDD电源耗费大电流；在静态条件下的耗电流极低。与触及的缺点类型有关，一颗有瑕疵IC的IDDQ将会高得多。丈量时，将测验向量施加至IC输入端，然后经过规则的树立时刻后，丈量产生的电流。完结丈量后，将丈量电流与预设阈值相比较以确认器材经过仍是失效。此阈值一般设定为微安或纳安级而且一般由多颗无缺IC的IDDQ统计剖析确认。跟着器材变得越来越杂乱，IDDQ测验不能总是用简略阈值测验履行。在某些状况下，有必要对被测器材（DUT）进行IDDQ数据统计剖析以便可靠地确认经过/失效状况。2600系列源表十分适于这两种测验计划。
测验体系装备
图2是面向CMOS IC，根据2600系列的
IDDQ测验体系。
图2. IDDQ测验体系装备
如图2所示，260X的HI和LO端子连至CMOS IC的VDD和VSS端子。在整个测验进程中，260X为IC供给稳定的直流电压。IC的输入端连至“数字测验体系”，这保证切换了悉数栅极或完结了要求的逻辑状况。假定此测验体系还操控着机械方位、DUT勘探和处置好/坏器材。
对260X的操控能够像规范可编程仪器那样，经过IEEE-488总线（GPIB）或许RS-232发送独立指令完结。260X上的这两种通讯接口都是规范的。可是，为完结最大吞吐量，能够将完好的测验脚本下载至仪器的测验脚本处理器，然后履行简直独立于PC主机（体系操控器）的悉数测验。当260X经过GPIB衔接至主操控器时，它实践上能经过其RS-232端口操控另一台仪器。因而，在恰当状况下，260X能发送ASCII指令字符串至数字操控体系并从数字操控体系接纳数据。
为进一步提高速度，外部硬件触发器用于同步IDDQ丈量和测验向量的运用。260X装备的14条数字输入/输出线路能用于数字操控（在此例中为经过/失效状况）或用作输入或输出触发线路。
当向量被发送至CMOS IC时，数字测验体系触发260X。当IDDQ值被评价完后，260X回来一个触发信号至数字测验体系，数字测验体系生成另一个测验向量。此进程重复进行直至产生悉数测验向量或许%&&&&&%未能经过测验。测验完结后，260X向其数字I/O（DIO）端口写入预先确认的位形式用于向数字测验体系指示器材的经过/失效状况。
当IDDQ测验的经过/失效状况仅经过源电流与阈值电平的比较来确认时，260X至少有两种办法完结这种丈量和查看。假如需求IDDQ的实践值，那么260X能丈量电流并将丈量值与阈值进行比较。假如电流超出阈值电平，那么测验失利；不然，测验经过。260X能按要求将恣意或悉数丈量值以及经过/失效状况回来至PC主机。假如无需IDDQ的实践值，那么260X能装备为数字比较器以完结更高的测验吞吐量。将260X的电流箝位极限设为阈值。施加测验向量并确认260X的箝位状况。假如耗电流企图超出此极限，那么260X将“进入箝位”并将电流箝在此极限。当产生此状况时，IDDQ测验失利。假如电流未超出此阈值，那么设备将不会进入箝位状况而且测验经过。因为无需用丈量确认仪器的箝位状况，所以后边的办法一般比前面的快。如前所述，杂乱器材的IDDQ测验不能总用简略阈值测验来完结。在某些状况下，有必要对被测器材（DUT）进行IDDQ数据统计剖析以便可靠地确认经过/失效状况。在从260X获取悉数测验数据后，PC主机就能进行数据剖析。但数据传输的进程适当慢，会明显影响测验吞吐量。
假如不需求保存读数，那么数据传输的价值太大了。用于设置测验脚本处理器
的测验脚本语言包含数学库及其它功用，能在仪器中进行很多剖析，然后无需传输悉数数据。260X的深存储器进一步供给了便当。每条SMU通道的两个非易失缓冲器能保存多达100,000个读数。易失存储器能用于更多数据的存储。
