在LED电源产品的规划过程中，工程师们需求处理的绝不仅仅是电路规划问题，更多的是LED电源的驱动计划挑选、LED的寿数维系以及后期的保护和检修作业等。今日小编特别整理了一些在LED检修和LED电源规划过程中的有用经历，经过问答的方式与各位新人工程师们一同共享，下面就让咱们一同来看看吧。
第一个问题：在规划LED电源产品时，怎么做才干规划出高品质LED驱动电路呢?
信任许多从事LED电源规划的工程师们都十分清楚，LED是现在世界上所研制的一种长寿数的电子元件，抱负状况下的LED其作业寿数可达50000小时，但应用电路规划不合理、LED电源散热性规划欠好等要素，都会影响它的运用寿数。而面临这一问题，运用能够省去电解电容器的新一代LED驱动IC，是一种切实可行的解决计划。
关于从事LED电源及周边产品研制的工程师们来说，在规划新一代的驱动IC时，必需求打破以往传统的DC-DC拓扑结构规划思想，能够选用恒功率、摒弃磁滞操控的降压型规划思路来进行新产品研制，选用定频定电流操控也是一个好办法。除此之外，高品质的LED驱动电路电路应力求简练，削减元器件的运用数量，并有用进步PWM操控器的占空比等。满意以上条件，所规划的新一代驱动IC才干够满意高品质驱动电路的规划需求。
第二个问题：LED被静电击穿的原理是什么姿态的?构成击穿的原理是怎么回事呢?
在进行LED电源的调试过程中，信任工程师们都从前遇到过接通样机后，LED元件被击穿的状况，这其中有适当一部分是被静电所击穿的。LED作为一种半导体，其自身的PN结是直接暴露在外头的，很简单触摸静电。当LED两个电极上极性不同的电荷堆集到必定的程度，又得不到及时开释时，此刻电荷能量一旦超越LED芯片最大接受值，电荷将以极短的瞬间在LED两个电极层之间进行放电，并在导电层之间局部会构成1400℃以上的高温，高温将会把导电层之间熔融成一些小孔，这便是咱们在LED电源测验过程中，常遇到的LED击穿现象了。
在进行LED电源的新产品样机测验时，一旦遇到LED元件被静电击穿的现象，阐明所规划的电路中有不合理的要素存在，此刻工程师需求及时的进行电路规划调整并从头测验。
