1 导言
在当时SoC 快速开展及半导体职业剧烈竞赛的阶段，进步测验功率、下降测验本钱，是从业者需求考虑和处理的课题。
Verigy 93000 是单一渠道的可晋级测验体系，它是满意SoC 技能全面集成需求的芯片测验体系处理方案。
本论文论述一种测验办法使得Verigy 93000 进行直流参数测验时独立并行运用硬件资源，然后节约测验时刻，进步测验功率。
2 Verigy 93000 用于DC测验的硬件资源
2.1 PMU（parameter measure unit，参数丈量单元）
PMU 是Verigy 93000 进行DC 测验最常用的硬件资源（如图1 所示）。当时运用最广泛的Pinscale测验体系中的PMU 有两种， 一种称为PPMU（Per- Pin PMU），包括在每个数字通道内。依据测验体系的装备结构，大头能够到达2048 个，小头1024个；另一种HPPMU （High Precision PMU，高精度PMU），每个Group中一个，大头有8 个，小头结构就只有4 个。因而在测验中，只需PPMU 的参数规模和精度满意芯片需求，咱们尽可能运用PPMU，并经过适宜的编程办法做到硬件资源彻底并行运用，加速测验速度。
图1 93000 的PMU 资源
2.2 Verigy 93000 的DPS （DevicePower Supply，芯片供电电源）资源
Verigy 93000 中每块DPS 板卡能够供给8 路电源通道，电源通道除了给芯片供给电源外，还具有加电压测电流的功用，这一般用于芯片的功耗测验。
本文不就此类测验展开评论。
3 PPMU 资源彻底并行运用的测验办法
PPMU 是Verigy 93000 中每一个数字通道都有的硬件资源，它具有加电压测电流（VFIM）和加电流测电压（IFVM）两种功用。运用这两种功用进行DC 测验，一般有两种完成办法。
1） 传统办法：经过调用PPMU 相应的API（可编程运用接口） PMU_VFIM （加电压测电流）和PMU_IFVM（加电流测电压）来完成。但运用这种办法进行测验时，假如不同的管脚需求不同的测验条件，测验时每个管脚是串行履行的，这样机台per- pin 的PMU 资源的优势就没有得到最好发挥，测验时刻会相应添加。
2） Flex DC 测验办法：能够做到运用PPMU 测验不同条件的PIN 时彻底独立，互不影响。因而，在运用PMU 进行DC 测验时，为了进步测验功率，添加产出，在测验条件答应的状况下，测验者尽可能选用这种办法。
两种办法的比较如表1 所示。
表1 两种DC 测验办法的比较
3.1 Flex DC 编程办法的详细完成
Flex DC 测验办法在程序中经过PPMU_SETTING、PPMU_RELAY、PPMU_MEASURE以及TASK_LIST 创立使命列表的办法来完成。此刻，咱们需求把不同测验条件的PIN 对应的PPMU的作业形式及条件规模、RELAY 的状况、测验成果的获取别离设定为相同的SETTING、RELAY 和MEASURE 中，然后把上述设定添加到同一个使命列表中。这样， 关于上述SETTING、RELAY 和MEASURE 中的不同pin 包括的动作，机台在履行测验的过程中是彻底独立并行的，能够做到资源的最优运用。
以2 个pin 为例，pin1 测验中需施加5 V 电压测电流，pin2 要施加2.5 V 电压测电流，Flex DC 的代码如下：
PPMU_SETTING set1；
PPMU_RELAY relay1；
PPMU_MEASURE measure1；
TASK_LIST task1；
set1. pin（ pin1 ）。 vForce（ 5 V）。iRange（ 40mA）。min（ 0 mA）。max（ 50 mA）；
set1.pin（ pin2 ）。vForce（ 2.5 V）。iRange（ 40mA）。min（ 0 mA）。max（ 40 mA）；
relay1.pin（pin1, pin2）。status（“PPMU_ON”）；
measure1.pin （pin1, pin2）。execMode （TM::PVAL）；
task1.add（set1）。add（relay1）。add（measure1）；
task1.execute（ ）；
以一款电源芯片为例，该芯片大部分为DC 测验项，另加小部分功用测验。下面咱们来看测验中选用Flex DC 测验办法和直接选用PPMU_IFVM进行测验，测验时刻的比照状况。（如表2 所示）。
表2 一款电源芯片两种测验办法的参数比较
表中比照能够看出，如不对测验程序进行优化，单芯片测验时相差0.6 s，双芯片一起测验相差0.9s；对测验程序进行优化（首要针对多芯片测验，使不同方位的芯片测验中能并行进行的动作一起履行），时刻差值就更显着，单芯片为0.9 s，双芯片达1.6 s。可见，选用Flex DC 的测验办法，能够有用削减测验时刻。
4 小结
结合Verigy 93000 SoC 测验机台的特色，评论了一种DC 测验资源的并行运用办法。成果表明该办法在测验中能彻底并行运用硬件资源，使测验时刻有用下降。
