JATG调试器详解

一般所说的JTAG大致分两类：
一类用于测验芯片的电气特性，检测芯片是否有问题；
一类用于Debug；
一般支撑JTAG的CPU内都包含了这两个模块。
一个含有JTAG Debug接口模块的CPU，只需时钟正常，就能够经过JTAG接口拜访CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备，如FLASH，RAM，SOC（比方4510B，44Box，AT91M系列）内置模块的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。
上面说的仅仅JTAG接口所具有的才能，要运用这些功用，还需要软件的合作，详细完成的功用则由详细的软件决议。
下面我首要介绍一个JTAG几条线的效果：
Test Clock Input(TCK)
TCK为TAP的操作供给了一个独立的、根本的时钟信号，TAP的一切操作都是经过这个时钟信号来驱动的，TCK在IEEE 1149.1规范里是强制要求的。
Test Mode Selection Input(TMS)
TMS信号用来操控TAP状况机的转化。经过TMS信号，能够操控TAP在不同的状况间相互转化。TMS信号在TCK的上升沿有用。TMS在IEEE 1149.1规范里是强制要求的。
Test Data Input(TDI)
TDI是数据输入的接口，一切要输入到特定寄存器的数据都是用过TDI接口一位一位串行输入的(由TCK驱动)，TDI在IEEE 1149.1规范里是强制要求的。
Test Data Output(TDO)
TDO是数据输出的接口。一切要从待定的寄存器中输出的数据都是经过TDO接口一位一位串行输出的(由TCK驱动)。TDO在IEEE 1149.1规范里是强制要求的。
Test Reset Input(TRST)
TRST能够用来对TAP Controller进行复位(初始化)。不过这个信号接口在IEEE 1149.1规范里是可选的，并不是强制要求的。经过TMS能够对TAP Controll进行复位(初始化)。所以有四线JTAG和五线JATG之分