当今的工程师在面临微、模数转换器(ADC) 和(DAC) 等等集成电路带来了共同的丈量应战中,有时需求解码两个IC 之间的SPI ,一起在同一块体系电路板上调查ADC 的输入和输出。
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因而嵌入式规划工程师能够敏捷了解体系中状况,并问题所在。
当今的工程师在面临微、模数转换器(ADC) 和(DAC) 等等集成电路带来了独特的测量挑战中,有时需要解码两个IC 之间的SPI ,同时在同一块系统电路板上观察
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