履行信号剖析仪高速主动化测验时，或许有必要在速度、重复性与动态範围之间取捨。最新式的信号剖析仪如安捷伦(Agilent)X系列信号剖析仪，内建了可当成扫描调谐式频谱剖析仪或向量信号剖析仪运用的功用，使其能够满意许多苛刻的运用需求。本文将会评论这些特性，并阐明怎么优化这些测验仪器以到达最高的产出速度。
留心速度、重复性 与动态规模
在评论某特定量测的速度时，很难纷歧併评论量测的重复性。在大多数的情况下，都有必要在最佳的重复性与量测时刻之间做取捨。将量测值加以均匀，能够改进量测成果的变异性，但却会添加额定的测验时刻。
量测时刻与重复性间的关係能够凭直觉了解，但量测时刻与动态範围之间的关係有时却会被疏忽。量测低位準信号并下降解析频宽而导致扫描时刻的添加，便是一个很好的比如。有时候就仅仅树立单个的量测，并将它们串在一起罢了，彻底不论全体测验计画。
以下阐明怎么树立全体测验计画，并考虑可到达最高产出的最佳速度、重复性与动态範围。
审慎树立测验方案
树立全体测验计画的第一步，便是履行单个的量测，以决议最佳的速度、重复性与动态範围设定。
量测的重复性，可藉由添加核算时可用的撷取材料数量来加以改进。添加量测时刻，便可添加撷取的材料数量，从而进步量测的重复性。在决议最佳的量测时刻时，能够依据自身对动态範围的需求，来挑选其重复性具有满足的起伏可经过测验约束的量测时刻。量测动态範围愈高，相邻通道功率(ACP)量测成果的可重复性就愈低，因而可到达较快的量测速度，但仍可经过测验约束(图1)。
图1 在X系列信号剖析仪中履行快速的ACP量测
改进动态範围或许会、也或许不会影响量测速度。举例来说，假如想下降剖析仪的本底杂讯(Noise Floor)，或许有必要先下降解析频宽，如此将会添加扫描时刻，从而下降全体量测速度。假如或许的话，下降输入衰减或发动前置放大器，可具有较佳的本底杂讯，而不会减缩测验时刻。有些剖析仪还会供给低杂讯途径功用，这能够改进本底杂讯而不会发生负面影响。
决议好单个量测的最佳设定后，就能够开端树立全体测验计画。首要，有必要确认有哪些量测能够并行履行。例如，在信号剖析仪中发动差错向量起伏(EVM)量测，然后运用功率表一起履行功率量测。等功率表完结量测之后，就能够读取EVM量测的成果。
在大多数情况下，测验计画都会包括多重迴圈，这是以不同的参数对待测设备(DUT)履行相同测验的一般需求。它们或许是不同的输入或输出位準，或是设备电压和电流。须将速度较快的量测置于最内层迴圈，将较慢的量测置于外层迴圈，这一点非常重要，由于最内层迴圈的履行频频度会高于外层迴圈。
进一步改进测验时刻
简直一切的情况下，只需封闭显示器就能够改进量测时刻。改进的程度取决于在整个量测过程中，显示器更新所占的时刻份额。
运用合併量测，例如合併全球举动通讯体系(GSM)、增强数据率GSM演进(EDGE)或宽频分码多重存取(WCDMA)运用，便可透过单一撷取来履行多项量测。此合併量测运用能够履行EVM、输出射频频谱(ORFS)、功率对时刻(PVT)和发射功率量测，并依据单一撷取传回量测成果，这样的做法比单个履行每一项量测要快得多。假如剖析仪具有先进的符号功用，就能够手动挑选量测，例如通道功率、ACP和相位杂讯(dBc)，而不用改变现在的量测或形式。
罗列扫描形式(List Sweep Mode)能够在不同的频率下履行多项零频距量测，然后敏捷传回成果。这关于要量测已知信号的谐波或第叁级截距(TOI)量测来说，是很好的挑选。
许多频谱和信号剖析仪都有内建输入输出(I/O)体系，可运用通用介面匯流排(GPIB)、Gigabit LAN或通用序列匯流排(USB)作为仪器介面。针对有必要在测验仪器与电脑之间传输很多材料的运用，有必要运用Gigabit LAN或USB。
善用新式剖析仪一机两用功用
许多新式频谱和信号剖析仪，都可当成扫描调谐频谱剖析仪和向量信号剖析仪运用(在同台仪器中)。在大多数情况下，运用扫描调谐频谱剖析仪来扫描宽频距，会比履行快速傅立叶转化(FFT)扫描还要快。
同样地，运用FFT扫描，以窄解析频宽来扫描窄频距一般也会比较快。假如对量测时刻较感兴趣，能够从Sweep Type Rules功用表中挑选Best Speed，此刻测验仪器会主动调整最佳的扫描时刻设定。
