2602型双通道体系源表[1]
并行I-V测验[2]体系――适用于杂乱器材的多个DUT测验或多通道测验的体系。对此类DUT的测验，速度取决于仪器、使用程序以及在施加鼓励源后DUT到达安稳响应时所需的时刻（过早的丈量将发生过错成果）。在现有的并行测验体系规划中碰到的约束包括次序多通道源[3]－丈量规划而不是同步的多通道源－丈量、有限的电压或电流量程、灵活性不行、体积巨大以及高本钱等（由于这些体系或许过度注重从根底规划开端、外表的灵敏度、或较高程度地为用户定制规划）。
可随意组合的多通道体系[4]――不同于其它两种结构，它一般包括多种仪器来测验杂乱的器材。两种最常见的可随意组合的多通道体系为（a）集成的功用测验机台和（b）选用开放式API（使用程序接口）架构仪器构建的I-V测验体系。
开放式API接口是指选用模块化结构的仪器产品，十分便利构建定制的测验体系计划；与半导体参数测验机台不同，它是一个彻底预先安装好的完好体系。在这两种结构中，SMU一般都是核心部件，当然也或许包括其他设备，如信号发生器、示波器、频谱分析仪[5]、程控开关等。
当SMU作为参数测验机台或其它成套测验体系的内部模块时，一般将宽带仪器作为外部添加设备。不管是哪种状况，最理想的是完成仪器的无缝集成，以获得多通道高速I-V测验解决计划。成套测验体系（交钥匙工程）的优势在于，现已为用户进行了许多的软硬件集成，且仍能供给必定程度的灵活性；其缺陷是本钱相对较高。相反，开放式API体系可获得高度的灵活性，而且本钱会愈加低价，当然这与详细的使用和仪器特性直接相关。
