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315MHz产品在TELEC认证中的测验办法及要求

前面两期中我们介绍了日本TELEC测试中WIFI及蓝牙产品的测试方法。本期我们简要的介绍下315MHz无线产品(一体化天线)的测试方法及限值

前面两期中咱们介绍了日本TELEC测验中WIFI及蓝牙产品的测验办法。本期咱们扼要的介绍下315MHz无线产品(一体化天线)的测验办法及限值要求。其适用法规为《MIC Notice No.88 Appendix No.42》。

一.首要测验技术指标及对应的测验要求:
1.频率差错测验及占用带宽(Frequency deviation and occupied frequency bandwidth)

Rule part 4.1, section 3

测验信道:正常作业信道

测验电压:常压

测验设备:首选频率计,如没有可选用频谱仪或接纳机(以下是频谱仪的设置)

EUT设置:接连发射方法

频谱仪设置:

中心频率:测验频率(先找到最大频率点,再运用频谱分析仪的peak Center 功用)

扫描带宽:3MHz

RBW/VBW:30KHz

扫描时刻:主动

扫描点数:401

扫描方法:接连扫描(Continuous)

检波方法:峰值检波(Positive peak)

显现方法:最大坚持(Max hold)

EUT安置(测验环境):在电波暗室进行

如图所示:

a)备测物放在电波暗室间隔参阅地上1.5m高度的旋转桌上与接纳天线相同高度;

b)接纳天线与被测物之间的间隔为3m。

测验过程:

(1)用peak功用读出当时频谱仪的上频率点的值“f”;

(2)读出测验曲线99%的能量占用带宽。

限值:
项目
Limits
频率差错
312 MHz
315.05 MHz
占用带宽
<1 MHz
2.杂散打扰测验(Spurious emissionorunwanted emission intensity)
测验信道:正常作业信道

测验电压:常压

EUT设置:接连发射方法。

测验设备及设置

表一:带外杂散(整段扫描)的频谱仪设置:

扫频规模
30 MHz 到 311 MHz 及
316.25 MHz到 3 GHz
RBW/ VBW
f < 1 GHz: 100kHz
f > 1 GHz: 1 MHz
扫描时刻
主动
扫描点数
401
扫描方法
单次扫描
检波方法
峰值检波
表二:带外杂散的频谱仪设置:
中心频率
载波或杂散信号频率
扫描带宽
0 Hz
RBW/VBW
100kHz
扫描时刻
主动
扫描点数
401
扫描方法
单次扫描
检波方法
峰值检波
表三:带内杂散(整段扫描)的频谱仪设置:
扫频规模
311 MHz – 311.9985 MHz,
315.2515 MHz – 316.25 MHz
RBW/VBW
3 kHz
扫描时刻
主动
扫描点数
401
扫描方法
单次扫描
检波方法
峰值检波
表四:带内杂散的频谱仪设置:
中心频率
杂散打扰频率 (注1)
扫描带宽
97 kHz
RBW/VBW
3 kHz
扫描时刻
主动
扫描点数
401
扫描方法
单次扫描
检波方法
峰值检波
注1:若按表三扫描到的杂散信号的频率大于311.95 MHz且小于315.3 MHz则视为311.95MHz或315.3 MHz。
测验过程:

1.按表一设置频谱仪,扫描带外整段频率规模内的杂散信号,看扫描到的杂散信号是否超越限值;

2.若扫描到的杂散信号大于规范限值,按照表二设置频谱仪,扫描杂散信号。为准确扫出杂散信号频率,顺次设置扫描带宽为100MHz,10MHz和1MHz,并按表二设置频谱仪,扫描杂散信号,确认杂散信号是否超支;

3.按照表三设置号频谱仪的各个参数,扫描带内争端频率的杂散打扰信号;

4.若扫描到带内杂散信号超出限值,则按表四设置好频谱仪对超支的点进行扫描,终究判别杂散信号是否超支。

限值:

f < 1 GHz: < 250nW/100kHz f > 1 GHz: < 1μW/1 MHz

3.天线功率差错测验(Antenna Power Deviation)
测验信道:正常作业信道

测验电压:常压

测验设备:首选功率计,如没有可选用频谱仪或接纳机(以下是频谱仪的设置)

EUT设置:接连发射方法

频谱仪设置:

中心频率:测验频率

扫描带宽:5MHz

RBW:3MHz

VBW:大于三倍的RBW

扫描时刻:等于转台转一圈的时刻

扫描点数:401

扫描方法:接连扫描(Continuous)

检波方法:峰值检波(Positive peak)

显现方法:最大坚持(Max hold)

EUT安置(测验环境):用等效代替法在电波暗室进行

如图所示:

测验过程:
a)设置好频谱仪各个参数,将备测物放在电波暗示1.5m高度的滚动台上;

b)旋转备测物,确认接纳到最大功率时备测物的视点;

c)改动测验天线(接纳天线)的极化方向,高度(在1m到4m的高度规模内上下移动),确认接纳到最大功率时测验天线的方位,并记录下频谱仪的值为“E”;

d)拿开备测物,将代替天线放在与备测物天线地点的相同方位,并确保信号源经过代替天线发射出与备测物相同的频率;

e)旋转滚动台,记下接纳到最大功率值时的方向;

f)改动测验天线的高度,记下接纳到最大功率值时接纳天线的方位,调整信号源使频谱仪的读到功率值为“E”,此刻信号源的功率记为“Ps”;

g)计算出备测物天线功率:

PO = PS – GS + LF

PS 为信号源输出功率(dBm)

GS 为替换天线的天线增益

LF 为信号源到替换天线之间的损耗

用Po与制造商声明的功率作比较算出差错。
4.发射时刻测验(Transmission time control)
测验信道:正常作业信道

测验电压:常压

测验设备:频谱仪

EUT设置:接连发射方法

频谱仪设置:

中心频率:测验频率

扫描带宽:0Hz

RBW/ VBW:1MHz

扫描时刻:依据实际情况调整,确保能完好的扫描到样品发射时刻

扫描点数:401

扫描方法:单次扫描(Single sweep)

检波方法:峰值检波(Positive peak)

EUT安置(测验环境):在电波暗室进行

如图所示:

测验过程:

将备测物放在电波暗示1.5m高度的滚动台上,按以上要求设置好频谱仪各项参数,让备测物继续发射信号,调整频谱仪扫描时刻,确保可以完好的扫描到备测物发射信号时刻,并记录下来;再调整频谱仪的扫描时刻,使数据图明晰读到一个Pulse,读出一个Pulse所占时刻宽度。

限值要求:

l周期性发射信号产品:

单个Pulse发射时刻<1s 发射继续时刻:30*单个Pulse发射时刻

l非周期性发射信号产品:

单个Pulse发射时刻<5s 发射继续时刻:<90s

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