多器材测验
TEC测验和操控
许多激光二极管模组装备了半导体制冷器（帕尔贴器材）。一般地，能够用TEC操控器在LIV测验扫描中操控整个模组的温度。还能够调理温度设定点来对TEC的功用进行校验，并可在到达新的设定温度之后查验热敏电阻的阻值。
过大的机械剪切载荷可能是最常见的帕尔贴器材失效机理。在传送和装置帕尔贴器材过程中，机械剪切载荷会导致器材的部分或悉数元件的分层或破损。简略的沟通或反向直流电阻测验能够在装置前后确认帕尔贴器材的质量。因为组成元件的自加热效应以及随之而来的热偏移导致直流电阻丈量成果并不精确。2510-AT型TEC 源表能够供给所需的双极源电流和电压丈量，便利进行这项测验。
阻隔测验
使用开关矩阵能够在激光二极管模组的各个组成元件中便利地进行阻隔测验。举例来说，热敏电阻与激光二极管间的电阻隔能够经过在热敏电阻和激光二极管之间施加电压，一起坚持热敏电阻和激光二极管各自的两个端子上具有相同的电势，来进行测验，上述办法能够防止电流流过各个元件自身。
