CMOS集成电路(CMOS IC)和电池供电产品的制造商需求丈量静态(或“待机”)电源电流用于验证出产测验质量。CMOS IC或其间含有CMOS IC制品的漏电电流丈量进程被称为IDDQ测验。此测验要求在IC处于静态条件下丈量VDD电源电流。测验的意图是查看栅氧化层短路及或许随时刻导致IC失效的其它缺点。同样地，带有双极晶体管的电池供电产品或其它IC的电源电流也能够在静态形式下丈量。
这些产品类型包含便携式电池供电的消费性电子产品，例如移动电话、寻呼机和笔记本电脑，以及可植入的医疗设备，例如心脏起搏器和除颤器。这些测验的方针是在给定电池充电电平缓作业质量条件下保证产品满意顾客对更长作业时刻的要求。测验有必要赶快完结以保证吞吐量符合要求，并且测验有必要全面以保证产品质量。
在挑选履行这些测验的丈量仪器时，两项最重要的考虑是速度和准确度。可是，在丈量小电流时，有时有必要在速度和准确度两者间做出取舍，所以一般需求用定制硬件完结这些测验。定制硬件的规划时刻或许很绵长并且一般不简单保护，而商购的测验体系一般易于运用、简单买到并且节约机架空间。
另一篇吉时利使用笔记介绍了如何用2400系列源表履行IDDQ测验和静态电流丈量。本使用笔记介绍了如何用吉时利最新的2600系列源表完成上述测验。这种新一代源表的产品系列包含单通道2601和双通道2602。因为具有内建测验脚本处理器(TSPTM)和新的仪器间通讯接口(TSP-LinkTM)，2600系列仪器比前几代源表的功用更强大和更灵敏。吉时利供给了每秒能履行约2500次IDDQ丈量的测验脚本实例。
