在单片机运用开发中，代码的运用功率问题、单片机抗搅扰性和可靠性等问题仍困扰着
工程师。为协助工程师处理单片机规划上的难题，《电子工程专辑》网站特邀Holtek香
港分公司工程部处长邓宏杰先生担任《单片机运用编程技巧》专题评论的嘉宾，与广阔
规划工程师沟通单片机规划开发经历。现依据论坛中的评论概括出单片机开发中应把握
的几个根本技巧。
一、 怎么进步C言语编程代码的功率
邓宏杰指出，用C言语进行单片机程序规划是单片机开发与运用的必然趋势。他着重：“
假如运用C编程时，要到达最高的功率，最好了解所运用的C编译器。先实验一下每条C语
言编译往后对应的汇编言语的句子行数，这样就能够很清晰的知道功率。在往后编程的
时分，运用编译功率最高的句子。”
他指出，各家的C编译器都会有必定的差异，故编译功率也会有所不同，优异的嵌入式系
统C编译器代码长度和履行时刻仅比以汇编言语编写的相同功用程度长5-20％。他说：“
关于杂乱而开发时刻紧的项目时，能够选用C言语，但条件是要求你对该MCU体系的C言语
和C编译器十分了解，特别要注意该C编译体系所能支撑的数据类型和算法。尽管C言语是
最遍及的一种高档言语，但由于不同的MCU厂家其C言语编译体系是有所不同的，特别是
在一些特别功用模块的操作上。所以假如对这些特性不了解，那么调试起来问题就会很
多，反而导致履行功率低于汇编言语。”
二、 怎么削减程序中的bug？
关于怎么削减程序的bug，邓宏杰给出了一些主张，他指出体系运转中应考虑的超范围管
理参数有：
1．物理参数。这些参数主要是体系的输入参数，它包含鼓励参数、收集处理中的运转参
数和处理完毕的成果参数。合理设定这些鸿沟，将超出鸿沟的参数都视为非正常鼓励或
非正常回应进行犯错处理。
2．资源参数。这些参数主要是体系中的电路、器材、功用单元的资源，如记忆体容量、
存储单元长度、堆叠深度。在程式规划中，对资源参数不允许超范围运用。
3．运用参数。这些运用参数常表现为一些单片机、功用单元的运用条件。如E2PROM的擦
写次数与材料存储时刻等运用参数边界。
4．进程参数。指体系运转中的有序改变的参数。
三、怎么处理单片机的抗搅扰性问题
邓宏杰指出：避免搅扰最有用的办法是去除搅扰源、间隔搅扰途径，但往往很难做到，
所以只能看单片机抗搅扰才能够不够强了。单片机搅扰最常见的现象便是复位；至于程
序跑飞，其实也能够用软件圈套和看门狗将程序拉回到复位状况；所以单片机软件抗干
扰最重要的是处理好复位状况。
一般单片机都会有一些标志寄存器，能够用来判别复位原因；别的你也能够自己在RAM中
埋一些标志。在每次程序复位时，经过判别这些标志，能够判别出不同的复位原因；还
能够依据不同的标志直接跳到相应的程序。这样能够使程序运转有连续性，用户在运用
时也不会察觉到程序被从头复位过。
四、 怎么测验单片机体系的可靠性
有读者期望了解用用什么办法来测验单片机体系的可靠性，邓宏杰指出：“当一个单片
机体系规划完结，关于不同的单片机体系产品会有不同的测验项目和办法，但是有一些
是有必要测验的：
1．测验单片机软件功用的完善性。这是针对一切单片机体系功用的测验，测验软件是否
写的正确完好。
2．上电、掉电测验。在运用中用户必然会遇到上电和掉电的状况，能够进行屡次开关电
源，测验单片机体系的可靠性。
3．老化测验。测验长时刻作业状况下，单片机体系的可靠性。必要的话能够放置在高温
，高压以及强电磁搅扰的环境下测验。
4、ESD和EFT等测验。能够运用各种搅扰模仿器来测验单片机体系的可靠性。例如运用静
电模仿器测验单片机体系的抗静电ESD才能；运用突波杂讯模仿器进行快速脉冲抗搅扰E
FT测验等等。
邓宏杰着重：“还能够模仿人为运用中，可能发生的损坏状况。例如用人体或许衣服织
物成心冲突单片机体系的触摸端口，由此测验抗静电的才能。用大功率电钻接近单片机
体系作业，由此测验抗电磁搅扰才能等。”
