交错ADC之间存在着多种不匹配的现象，如失调和增益不匹配。 此外，时序不匹配的校准方法也得到了工程师们的广泛关注。而在寻找解决方案之前，必须首先了解目前所面对的是什么，到底需要解决什么问题。 就像建
交错ADC得到了越来越多的工程师的广泛关注。目前仍有诸多问题聚焦于ADC失配的校准方法。在深入探讨任何可能的校准方法之前，工程师需要了解都有哪些不匹配。对于失调不匹配，没有必要施加一个输入信号以便查看
时间交错ADC时存在的许多不匹配现象。在这些不匹配显像中有一个更为明显的问题：这些不匹配所产生的杂散有多大?现在，在知道了各种不匹配会引起交错杂散，并且知道杂散在哪里的情况下，工程师该如何知道杂散有多
CMOS差动放大器晶体管的不匹配特性变化和解决方法研究-随着微电子制造业的发展，制作高速、高集成度的CMOS电路已迫在眉睫，从而促使模拟集成电路的工艺水平达到深亚微米级。因为诸如沟道长度、沟道宽度、阈值电压和衬底掺杂浓度都未随器件尺寸的减小按比例变化，所以器件的不匹配性随着器件尺寸的减小越加明显。在短沟道CMOS电路中由于不匹配性引起的特性变化可能会限制器件尺寸的减小而影响工艺水平的发展，这样不匹配性的消除就显得更重要。
