
摘要:由于传统的NI-DIO驱动板卡能够驱动的I/O口数量比较有限,一般只应用在测试通道数比较少的实验场合。而在一般的大型环境试验中,要求能对多个产品同时测量。如果使用传统的DIO板卡测试,就会出现测

传统扫频仪的信号源大多采用LC电路构成的振荡器,大量使用分立元器件来实现各功能,显示部分采用传统的扫描显示器。因此传统结构的扫频仪不仅结构复杂、体积庞大、价格昂贵、操作复杂,而且由于各元件分散性大,参
摘要:由于传统的NI-DIO驱动板卡能够驱动的I/O口数量比较有限,一般只应用在测试通道数比较少的实验场合。而在一般的大型环境试验中,要求能对多个产品同时测量。如果使用传统的DIO板卡测试,就会出现测
传统扫频仪的信号源大多采用LC电路构成的振荡器,大量使用分立元器件来实现各功能,显示部分采用传统的扫描显示器。因此传统结构的扫频仪不仅结构复杂、体积庞大、价格昂贵、操作复杂,而且由于各元件分散性大,参