摘要 IP核的广泛应用提高了电路集成的效率。由于众多功能各异的IP核集成在电路中,完善的测试机制是确保其正常工作的前提。因此,如何对IP核进行测试成为复用IP核技术必须解决的问题。IEEE Std 1
复用功能没有重映射部分重映射完全重映射TIM3_CH1PA6PB4PC6CH2PA7PB5PC7CH3PB0PB0PC8CH4PB1PB1PC91234567891011121314151617181
摘要 IP核的广泛应用提高了电路集成的效率。由于众多功能各异的IP核集成在电路中,完善的测试机制是确保其正常工作的前提。因此,如何对IP核进行测试成为复用IP核技术必须解决的问题。IEEE Std 1
复用功能没有重映射部分重映射完全重映射TIM3_CH1PA6PB4PC6CH2PA7PB5PC7CH3PB0PB0PC8CH4PB1PB1PC91234567891011121314151617181