三线电阻式温度检测器丈量体系中励磁电流失配的影响(续)

这篇文章将讨论两种可消除励磁电流失配和失配漂移影响的方法。第一种方法是把内部多路复用器用于大多数集成式解决方案的软件方法。第二种方…

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验证射频功率晶体管的耐用性

验证射频功率晶体管的耐用性

目前制造的大功率射频晶体管比以往任何时候都更坚实耐用。针对特高耐用性设计的器件可以承受严重的失配,即使在满输出电平时也是如此。现在多家制造商可提供大功率硅横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS)晶体管,

一种具有后台校对功用的电流舵DAC

随着工艺水平的提高,MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,即金属-氧化物半导体场效应晶体管)阈值电压的失配常数Avt越来

RF电路中的VSWR测验和维护规划的解决方案

RF电路中的VSWR测验和维护规划的解决方案

RF电路中的VSWR测试和保护设计的解决方案-电压驻波比(Voltage Standing Wave Ratio,VSWR)是用于描述电路阻抗失配程度的参数。差的VSWR可能引起RF电路中的许多问题。VSWR引起的最坏情况是RF/微波高功率放大器(HPA)的永久性损坏,这通常被称为VSWR故障。因此,保护HPA防止出现VSWR故障是极为重要的。本文提出了一种解决方案,它使用定向耦合器和高性能RF对数放大器检测VSWR参数,避免VSWR故障,以保护HPA。本文对VSWR检测和保护方案的原型电路进行了设计和测试,采用这个方案,以往在VSWR 》 4:1的条件下就发生故障的HPA,在VSWR 》 15:1的条件下仍能正常工作。

四通道高速直接数字频率合成器AD9959的功用特色和使用

四通道高速直接数字频率合成器AD9959的功能特点和应用-AD9959是美国ADI公司最新推出的一款四通道高速直接数字频率合成器。该芯片内部集成了四个DDS核,因此可对四个内部同步输出通道独立进行编程。通过一个公用系统时钟在芯片内部同步其独立的通道,AD9959可以对由于模拟处理(例如滤波、放大)或者PCB布线失配而产生的外部信号通道的不均衡进行有效的校正,从而使系统工程师用相当少的时间和精力去处理这个通常很复杂的系统设计问题。

交织式ADC的带宽失配问题的解决方案剖析

交错式ADC的带宽失配问题的解决方案分析-交错式ADC之间的带宽失配应该是对于设计师而言最难解决的失配问题。 如图1所示,带宽失配具有增益和相位/频率分量。 这使得解决带宽失配问题变得更为困难,因为它含有两个来自其他失配参数的分量:增益和时序失配。

接地阻抗电流传感器重建输入电流

接地阻抗电流传感器重建输入电流-假设电流镜1的输入电流为IB+ IIN,电流镜2的输入电流为IB,则输出电流为IO=β1IB+β1IIN-β2IB=(β1-β2) IB+β1IIN,其中,IB是放大器最后一级的静态电流,β1和β2是电流镜的失配系数。输出电流有一个很容易去除的直流偏置电流,并且还有一个输入端小信号电流IIN的某个缩放值。

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