单片机IO口测量外部电阻

一、前言 在以前的有些单片机应用中,有的时候会遇到 AD 端口资源不够用的情况,但又需要测量电阻的大小。比如一个热敏电阻的阻值。有人给出了一个利用两个 IO 端口完成电阻精确测量的...

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根据555定时器和单片机的RC丈量体系规划

基于555定时器和单片机的RC测量系统设计-本文介绍了一种基于AT89C51单片机和555定时器的数显式电阻和电容测量系统设计方案,然后制作出电路实物,实现系统的功能。系统利用555定时器和待测电阻(或电容)组成多谐振荡器,通过单片机定时器测量555输出信号的周期,根据周期和待测电阻(或电容)的数学关系再计算出电阻(或电容)值,再通过1602液晶显示器将其显示出来。

单片机晶振不起振的40个原因剖析

单片机晶振不起振的40个原因剖析

单片机晶振不起振的40个原因分析-单片机晶振不起振原因分析遇到单片机晶振不起振是常见现象,那么引起晶振不起振的原因有哪些呢?(1) PCB板布线错误;(2) 单片机质量有问题;(3) 晶振质量有问题;(4) 负载电容或匹配电容与晶振不匹配或者电容质量有问

AVR单片机中RC电容接触的感应原理解析

AVR单片机中RC电容接触的感应原理解析

AVR单片机中RC电容触摸的感应原理解析-在触摸感应应用中,电容值(C)由两部分组成:固定电容(电极电容,CX)和当人手接触或者靠近电极时,由人手带来的电容(感应电容,CT)。电极电容应该尽可能的小,以保证检测到人手触摸。因为通常人手触摸与否,带来的电容变化一般就是几个pF(通常5pF)。

根据STM32的电容接触按键的原理解析

基于STM32的电容触摸按键的原理解析-没有按下的时候,充电时间为T1(default)。按下TPAD,电容变大,所以充电时间为T2。我们可以通过检测充放电时间,来判断是否按下。如果T2-T1大于某个值,就可以判断有按键按下。

单片机晶振的负载电容常见问题剖析

单片机晶振的负载电容常见问题剖析

单片机晶振的负载电容常见问题分析-单片机晶振旁边两个对地电容叫晶振的负载电容,分别接在晶振的两个脚上和对地的电容,一般在几十皮发。它会影响到晶振的谐振频率和输出幅度,一般订购晶振时候供货方会问你负载电容是多少。

Silicon Labs电容接触系列MCU的CDC作业原理

Silicon Labs电容接触系列MCU的CDC作业原理

Silicon Labs电容触摸系列MCU的CDC工作原理-现在的电子产品中,触摸感应技术日益受到更多关注和应用,并不断有新的技术和IC面世。与此同时,高灵敏度的电容触摸技术也在快速地发展起来,其主要应用在电容触摸屏和电容触摸按键,但由于电容会受温度、湿度或接地情况的不同而变化,故稳定性较差,因而要求IC的抗噪性能要好,这样才能保证稳定正确的触摸感应。

MSP430单片机的LED驱动电路原理解析

MSP430单片机的LED驱动电路原理解析-MSP430系列单片机以低功耗和外设模块的丰富性而著称,而针对电容触摸应用,MSP430的PIN RO 电容触摸检测方式支持IO口直接连接检测电极,不需要任何外围器件,极大的简化了电路设计,而本设计文档中使用的MSP430G2XX5 更支持多达2个IO口,可驱动24个以上的LED灯,达到理想的显示效果。

如安在STM8S单片机上完成一键式的开关机功用

如安在STM8S单片机上完成一键式的开关机功用

如何在STM8S单片机上实现一键式的开关机功能-电路图如下,C1是STM8S单片机VCAP电容,保持内部1.8V电压的稳定,是STM8S单片机唯一必须接要的外部元件,选用容量为1μF的瓷片电容,而且从电路可靠性讲,这个电容越靠近单片机IC越好。

单片机定时器和计数器的类型及作业原理解析

单片机定时器和计数器的类型及工作原理解析-在51单片机中,分为软件定时器,不可编程硬件定时器,可编程定时器。

软件定时:CPU每执行一条指令时,是需要固定时间的,所以,通过执行空指令可以达到延时的效果,这样子做的代价是占用CPU时间,所以一般很少这么做。

不可编程硬件定时器:是由电路和硬件来完成定时功能的,一般采用基电路,外接定时部件(电阻和电容),通过改变电阻的阻值和电容的电容值来修改定时值,一量确定后件不能通过软件修改,这样子做的优点是不需要占用CPU时间。

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