pcb设计逻辑芯片功能测试用于保证被测器件能够正确完成其预期的功能。为了达到这个目的,必须先创建测试向量或者真值表,才能进检测代测器件的错误。一个真值表检测错误的能力有一个统一的标准,被称作故障覆盖率
图A中所示是CMOS异或门的符号和真值表,B是四符合应用电路。由真值表可知,2输入端的异或门只有当输入信号不相等时输出为逻辑“1”。异或门的传输门为受B输入控制的开关。当B为“0”时,传输门导通,这时
pcb设计逻辑芯片功能测试用于保证被测器件能够正确完成其预期的功能。为了达到这个目的,必须先创建测试向量或者真值表,才能进检测代测器件的错误。一个真值表检测错误的能力有一个统一的标准,被称作故障覆盖率
图A中所示是CMOS异或门的符号和真值表,B是四符合应用电路。由真值表可知,2输入端的异或门只有当输入信号不相等时输出为逻辑“1”。异或门的传输门为受B输入控制的开关。当B为“0”时,传输门导通,这时