芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是最后一章。第一章介绍了芯片测试的基本原理，第二章介绍了这些基本原理在存储器和逻辑芯片的测试中的应用，第三章介绍了
第二章，物理层主要有位定时和位填充、高速收发器、网络拓扑结构、连接器。CANopen的物理层相当于CAN控制器中采用的子层PLS（物理信号）、M
第二章：现场总线PROFIBUS技术要点本章从PROFIBUS协议标准角度，概要说明了PROFIBUS技术要点。使读者可快速了解PROFIBUS技术概貌。21PROFI
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