1 布景
示波器作为电子设计、测验及调试进程中必不可少的测验东西,能够协助工程师更准,更快,更方便地定位和处理问题,被誉为“工程师的眼睛”。 执着寻求更加实在的反映电路中实践信号波形。
跟着待测信号速率越来越快,测验精度越来越高,数字示波器相关于模仿示波器的优势更加显着。采样率无疑成为一个重视的焦点,因为这关系到能否实在复原信号波形。在实践测验中,咱们有必要时刻重视采样率,确保过采样,防止呈现因为欠采样引起波形失真乃至不能复原实在信号波形。
关于一个示波器来说(以R&S公司示波器RTO1024阐明),中心器材是采样率为10G/S的单核ADC。在实践运用示波器时,咱们会遭到示波器榜首关系式的约束,见式1:
采样率×采样时刻=采样率×时基×10=存储深度 —————————-(式1)
关于每台示波器,它的存储深度是必定的,那么咱们在运用示波器进程中,跟着所要测验的信号的时基不同,对应的采样率也不相同,这时就特别要重视防止欠采样。在示波器数据处理进程中,显现出波形的采样率的改变经过插值和抽取的方法来完成的。这里有个关系式能够判别插值和抽取的适用状况,见下表1所示。下面别离就插值和抽取做简略的评论。
表1 不同采样率比照
RTO1024:FADC=10G/S | 作业形式 | 阐明 |
F |
实时抽取采样 | 对10G/S采样点依照采样坚持,峰值检测,高分辨率,RMS方法抽取 |
F=FADC | 实时采样 | 实时采样,采样率为10G/S |
F>FADC | 实时插值采样 | 在10G/S采样点之间依照线性,正弦,采样坚持方法插值 |
2 基本原理
下降波形采样率以去掉过多数据的进程称为信号的“抽取”。进步波形采样率以添加数据的进程称为信号的“插值”。本篇侧重评论数据抽取对测验波形和采样率的影响。
2.1 信号的抽取
设X(n)=x(t)|t=nTs,欲使采样率Fs下降M倍,将x(n)中每M个点中抽取一个,顺次组成一个新的序列y(n),即
则可推算出抽取后信号采样周期T=MTs。
抽取框图见图1所示:
图1 信号抽取示意图(M=3),(a)为原始信号,(c)为抽取后信号
经过对信号数据抽取后,采样率下降,F=Fs/M。为了确保能够复原出信号波形,有必要要求抽取后的采样率大于两倍信号最高频率f,即有必要要确保过采样,见式2。
F=Fs/M >2f ——————————————————–(式2)
2.2 信号的插值
在示波器的ADC采样率不足以清楚的捕获到信号细节,这时需求更高的采样率实在复原收集信号细节部分。插值这个方法的运用能够完美处理这一点,在ADC实践采样点之间刺进特定算法核算的虚拟采样点,以此等效进步信号采样率。在R&S示波器中,你能够经过三种方法完成采样率的进步,别离是线性插值(line),正弦插值(sinx/x),采样坚持插值(sample),后续再做具体介绍。
3 示波器采样率
针对R&S示波器RTO1024,其ADC的固定硬件采样率为10G/S,经过不同的抽取方法下降采样点数量,别离为SAMPLE,PEAK DETECT,HI-RES,RMS方法。并且能够完成同一通道同一波形以三种不同的抽取方法一起显现。在实践运用进程中,咱们依据实践状况挑选不同的抽取方法进行测验。
依据示波器榜首关系式,示波器能够主动识别当时所在的的采样形式,判别标准是跟ADC的是固定采样率10G/S做比较。假如当时实时采样率低于或等于10G/S时,则主动作业在实时形式,假如当时实时采样率高于10G/S,则能够主动翻开分辨率加强功用:插值。假如运用抽取形式,在采样率低于10G/S时,四种抽取形式能够供挑选:SAMPLE,PEAK DETECT,HI-RES,RMS。
因而,能够看出,咱们对示波器的灵敏设置,能够进步或许下降示波器实践采样率,满意咱们实践测验需求。下面咱们就RTO1024示波器的四种抽取方法,来别离阐明抽取对测验的影响。
4 抽取方法
抽取形式削减从ADC收集的数据点,以此到达下降采样率。在抽取形式下,分辨率加强功用主动封闭。RTO示波器一共能够支撑四种抽取方法,对ADC收集的数据做相应的抽取处理,其它数据悉数丢掉,这样来完成下降采样率。下面别离从这四种抽取方法进行阐明,以示波器上校准信号(1KHz方波)作为测验源。
4.1 Sample
所谓“sample”,便是采样坚持,跟ADC数据离化进程是相同。这是通用的默许抽取方法,在ADC收集的数据点里边,以N个点为一组,从这N个点里取出榜首个点,作为新的波形数据里边的采样点,N个点里的其他采样点悉数丢掉。经过抽取出来的这些点拟组成一个波形,如下图3所示。选用sample抽取方法测验波形如下图4所示,这和一个低采样率的ADC收集的波形数据是相同的。