脉冲式电测验是一种可以削减器材总能耗的丈量技能。它经过削减焦耳热效应（例如I2R和V2/R），防止对小型纳米器材或许形成的损坏。脉冲测验选用足够高的电源对待测器材（DUT）施加距离很短的脉冲，发生高品质的可测信号，然后去掉信号源。
经过脉冲测验，工程技能人员可以获得更多的器材信息，更精确地剖析和把握器材的行为特征。例如，使用脉冲测验技能可以对纳米器材进行瞬态测验，确认其搬运函数，然后剖析待测资料的特征。脉冲测验丈量关于具有恒温约束的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和纳米器材，可以防止自热效应，防止自热效应掩盖研究人员所关怀的呼应特征。器材工程师还可以使用脉冲测验技能剖析电荷抓获效应。在晶体管敞开后电荷抓获效应会下降漏极电流。跟着电荷逐步被抓获到栅介质中，晶体管的阈值电压因为栅电容内建电压的升高而增大；然后漏极电流就下降了。
脉冲测验有两种不同的类型：加电压脉冲和加电流脉冲。
电压脉冲测验发生的脉冲宽度比电流脉冲测验窄得多。这一特性使得电压脉冲测验更适合于热传输试验，其间咱们所关怀的时刻窗口只要几百纳秒。经过高精度的幅值和可编程的上升与下降时刻可以操控纳米器材上的能耗巨细。电压脉冲测验可用于可靠性测验中的瞬态剖析、电荷抓获和沟通应力测验，也可用于发生时钟信号，模仿重复操控线，例如存储器读写周期。
电流脉冲测验与电压脉冲测验十分类似。其间，将指定的电流脉冲加载到DUT上，然后丈量器材两头发生的电压。电流脉冲测验常用于丈量较低的电阻，或许获取器材的I-V特征曲线，而不会使DUT发生许多的能耗，防止对纳米器材的危害或损坏。
电压和电流脉冲测验都有许多长处，可是它们的缺陷却不尽相同。例如，超短电压脉冲的速度特征剖析归于射频（RF）的领域，因而假如测验体系没有针对高带宽进行优化，那么丈量过程中很简单发生差错。其间首要有三种差错来历：因为线缆和连接器形成的信号损耗、因为器材寄生效应形成的损耗以及触摸电阻。
电流脉冲测验的首要问题是上升时刻较慢，或许长达几百纳秒。这首要受限于试验装备中的电感和电容
