2602型双通道体系源表[1]
测验运用与设备结构的合作
在面对这些挑战时，出产测验工程师有必要完全纵览ATE远景，寻觅新的硬件结构和软件结构，从中找出满意其测验功用所需的最佳挑选。当然，依据详细运用挑选本钱最节约的设备也是必需的。可是，在绝大多数出产测验中，对电子部件（或模块）重复的、序列化的测验是一个一起的要求，运用这组测验序列可对被测样品施加电压或电流、丈量DUT反响、将丈量值与极限值进行比较，并做出经过/失效判定等。从整个生成进程看，在出产初期尤为如此。关于这些运用来说，准确的低噪声电流、电压源和丈量才能是必不可少的。
简略的2-4引脚元器材[2]。该类DUT包含电路保护装置、二极管[3]、LED、晶体管、三端稳压器、直流-直流变换器、光隔离器、MEMs开关以及继电器等元器材。关于二端器材，能够运用一个适当简略的源－丈量规程。三端器材和四端器材需求较为杂乱的测验，测验两个通道上的快速瞬时呼应，以便发生准确的I-V特性曲线。跟着最新的元器材分选器（Handler）现已能以10ms每个元器材的处理速度快速挑选元器材， 仪器速度已成为了测验体系的瓶颈。
2611型单通道体系源表仪（200V）
元器材阵列[4]。此类比如包含电阻阵列（阻排）芯片、瞬时电压按捺（TVS）阵列、集成式铁氧体器材以及倒装芯片阵列等。对这些器材的测验就如同在这些器材的分立模型上进行测验相同，然而在阵列取得经过之前，一切的单个器材有必要先测验结束。若想取得高的吞吐速率，这些阵列的产品要求选用并行的多通道测验。
IC/RFIC/晶圆上器材测验[5]。这种类型的产品包含多种多样的杂乱器材。在出产初期，一般要求对这些器材丈量 nA 量级（10-9A）的静态电流及漏电流。这样高的灵敏度要求来源于低功率规划，这种规划有助于延伸电池供电的寿数。此外，该类型产品测验一般包含一套简略的DC丈量组合，用来查看晶圆上面一切器材的基本功用。因为每块圆片都有数以千计的器材，因而有必要选用快速的多通道测验技能。
其它杂乱的器材/模块。举例来说，包含电源、数据采集卡、RFIC功率放大器[6]以及混合%&&&&&%[7]（Hybrid %&&&&&%）。此类产品的测验要求从DC至RF范围内的多种丈量仪器，一般要求源－丈量序列和多台仪器之间进行严厉的时序摆放，以准确表征DUT 的电学特性。选用相对较多的并行通道结构定制的丈量体系时，一般需求易于多台组合的仪器和测验设备。
