以下一切的阐明来源于《STM32F103xx数据手册》(2008年5月 第7版)。这儿没有新的信息，仅仅把数据手册中的相应部分翻译了一下。
在阅览这个数据手册中各个参数时，首要有必要搞清楚这些参数是怎么得到的。依据手册中5.1.1节和5.1.2节的阐明，有些参数是在必定条件下在出产线上测验得到，有些则是依据样本测验后计算得出。下面这段话是5.1.1节和5.1.2节的译文摘抄：
5.1.1 最小和最大数值
除非特别阐明，在出产线上经过对100%的产品在环境温度TA=25℃和TA=TAmax下履行的测验(TAmax与选定的温度规模匹配)，一切最小和最大值将在最差的环境温度、供电电压和时钟频率条件下得到确保。
在每个表格下方的注解中阐明为经过计算、规划模仿和/或工艺特性得到的数据，不会在出产线上进行测验；在计算的基础上，最小和最大数值是经过样本测验后，取其均匀值再加减三倍的规范散布(均匀±3∑)得到。
5.1.2 典型数值
除非特别阐明，典型数据是根据TA=25℃和VDD=3.3V（2V ≤ VDD ≤ 3.3V电压规模）。这些数据仅用于辅导规划而未经测验。
典型的ADC精度数值是经过对一个规范的批次采样，在一切温度规模下测验得到，95%的产品差错小于等于给出的数值(均匀±2∑)。
再看下面两张表，在25℃且VDDA = 3V～3.6V时，典型差错可达±1.3LSB，最大可达±2LSB；在一切温度规模内且VDDA=2.4V～3.6V时，典型差错可达±2LSB，最大可达±5LSB。
关于ET、EO、EG、ED、EL的含义和联系见下图(此图是手册中的图29)：
