2.2.2.3电桥法测电阻原理
直流双臂电桥又称凯尔文电桥，首要用于丈量低值电阻。双电桥测小电阻的电路原理图如图2.5所示：
图中RX是被测电阻，RN是低阻值规范电阻，它们都是4端衔接；RX与RN用一根短而粗的电阻值为R的导线衔接，并与电源组成一个闭合回路：电压接头别离与R1，R2，R3和R4衔接，各电阻值均不小于10
当电桥平衡时，检流计中无电流经过，E和f两点电势持平，依据基尔霍夫第二规律列出方程组，解得：
在试验中，固定凡和凡，调理凡和凡，使电桥平衡，运用公式即可计算出被侧电阻凡的阻值.
双臂电桥减小附加电阻影响的关键在于4端衔接，从图中能够看出，4端衔接是电流接头和电压接头分接，把各衔接部分的导线电阻别离引进检流计回路或电源支路中。因检流计回路电阻为大电阻，引进检流计回路的附加电阻可忽略不计；而引进电源支路的导线电阻和触摸电阻只影响作业电流，不影响电桥平衡；因而，都不影响凡的丈量值。值得阐明的是，因为电源回路包含凡与凡中电阻小，电流大，电路易发热，会使电路中电阻值增大，形成丈量值改变不定。因而，在实践丈量低阻时，应尽量缩短试验操作的时刻，为防止试验数据改变不定，应考虑电路散热问题，最简略的办法是增大4端衔接头的散热面积〔51.双电桥法测电阻的特点是能消除接线电阻及触摸电阻所形成的差错，大大减小触摸电阻的影响，提高了丈量的精度。可是因为双臂电桥回路经过的是只要几个微安的弱小电流，难以消除电阻较大的氧化膜的影响，测出的电阻示值偏大，而氧化膜在大的电流下很简单被烧坏，不允许正常电流经过。并且当触头因调整不妥、运转中发生改变或触头烧损严峻等使有用触摸面积减小时，双臂电桥的弱小电流在其触摸处不会发生缩短，无法测出缩短电阻，而在大电流或正常电流经过期，会使该处触摸处的电阻添加，引起触头的过渡发热和加快氧化。
2.2.2.4四线法测电阻原理
四线丈量是将恒流源Is电流流入被测电阻RX的两根电流线和电压表丈量端的两根电压线分隔，使得电压表丈量端的电压不再是恒流源两头的直接电压，如图2.6所示。
从图中可知：“四线丈量法比二线丈量法多了两根馈线，电压丈量端并不好恒流源端直接相连，而是直接连到待测电阻两头。所以，恒流源与被测电阻R厂、馈线尺、凡构成一个回路。送至电压丈量端的电压只要RX两头的电压，馈线R1、R4电压没有送至电压丈量端，因而，馈线电阻R1和R4对丈量成果影响极小。因为电压表的输入阻抗远大于馈线电阻R2和R3，馈线电阻R2和R3对丈量成果影响相同很小。经过已知电流凡和测得的电阻凡两头的电压呱即可得到RX：
所以由上式可知，四线丈量法丈量细小电阻的准确度很高。因而，即便丈量导线电阻不持平，也不会对丈量形成影响。所以，本课题研讨的高精度微电阻测验仪选用四线制的办法来丈量。
2.3.3电流反向两次丈量法
电流反向两次丈量法的原理如下图2.7所示，差错源中的热电动势既来自丈量电路外部，又来自丈量电路自身；电化学电势，相同也来自丈量电路外部和内部，折算到扩大电路输入端扩大电路自身的失调电压，记为际。这些差错信号巨细根本都不随测验电流的巨细和方向改变，可是热电动势会随温度改变而改变
设来自丈量电路外部的热电势为绮，来自丈量电路自身的热电势为瑞；来自丈量电路外部的电化学电势为凡，来自内部的电化学电势为E：；折算到扩大电路输入端扩大电路自身的失调电压为。
