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SSD远景因推迟和错误率蒙上暗影

加州大学和微软的研究发现,随着芯片尺寸缩小,NAND Flash记忆体会出现显著的性能退化。当电路尺寸从今天的25nm缩小到6.5nm,SSD的延迟会增加一倍。加

加州大学和微软的研讨发现,跟着芯片尺度缩小,NAND Flash记忆体会呈现明显的功能退化。当电路尺度从今天的25nm缩小到6.5nm,SSD的推迟会添加一倍。

加州大学的研讨生Laura Grupp说,他们测试了7家SSD供货商的45种不同类型NAND Flash芯片,这些芯片采用了72nm到25nm的光刻工艺,发现芯片尺度缩小伴跟着功能退化和错误率添加。TLC (三层存储单元)NAND的功能最差,之后是MLC(双层存储单元)NAND和SLC(单层存储单元)NAND。研讨人员说,因为功能退化,根据MLC NAND的固态硬盘难以超越4TB,根据TLC NAND的固态硬盘难以打破16TB,因而固态硬盘的未来之路可能在2024年到头。

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