数字仪器供给了开发智能半导体测验体系所需的硬件与软件功用
NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于协助工程师和科学家应对全球最严峻的工程应战的渠道体系供货商，今天宣告推出了NI PXle-6570依据图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量修改器。 该产品将射频集成电路、电源办理IC、微机电(MEMS)体系设备以及混合信号IC的制造商从传统半导体自动化测验设备(ATE)的封闭式架构中解放出来。
传统ATE的测验覆盖率一般无法满意最新半导体设备的要求。经过将半导体职业老练的数字测验形式引进到依据PXI敞开渠道的半导体测验体系(STS)中,并运用功用强大且人性化的修改器和调试器进行优化，用户能够运用先进的PXI仪器来下降射频和模仿IC的测验本钱并进步吞吐量。
“PXI数字形式仪器为半导体工程师供给一切高端数字测验渠道才具有的数字功用，因而它的面世无疑是为STS如虎添翼，” NI半导体测验副总裁Ron Wolfe表明， “假如出产车间的PXI具有这个功用，他们就能够在满意先进器材的本钱和测验要求的一起，轻松将其扩展到其他产品的测验上。”
NI PXIe-6570数字形式仪器以十分实惠的价格为无线设备供应链和物联网设备常用IC供给了所需的测验功用。它具有100 MVector/秒的图形向量履行速率，在单个子体系中具有独立的源、捕获引擎、电压/电流参数函数以及高达256个同步数字引脚。 用户可充分运用PXI的敞开性和STS，依据需求恣意地添加或削减所需的器材，以满意测验装备所需的器材引脚和测验点数。
全新的数字形式修改器软件具有以下功用：器材引脚映射图、规范和图形向量修改环境，有助于更快速地拟定测验方案;各种内置东西，如多站点和多仪器并行收发可完成产品从开发到投产的无缝对接;shmoo图和交互式引脚视图等东西，可更高效地调试和优化测验。
运用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和数字形式修改器软件进行特性剖析和产品测验，可削减数据相关所需的作业，然后缩短产品上市时刻。 STS装备表里的PXI硬件占地空间小，可节约厂房空间，并且可运用特性剖析实验室台上的规范墙插式电源供电。
“PXI已被证明是一个超卓的软硬件集成解决方案，可一起适用于产线车间和特性剖析实验室，”Wolfe弥补道，“NI依据图形向量的数字通道板卡和数字图形向量修改器是重要的立异产品，可协助器材制造商和测验室下降测验本钱以及优化测验程序开发。”
许多半导体公司正依据NI渠道和生态体系来构建智能化的测验体系。 不仅仅是出产适用的STS系列、1 GHz带宽矢量信号收发仪，fA级源丈量单元以及TestStand半导体模块, 这些体系获益于覆盖了直流到毫米波的600多款PXI产品。 它们选用PCI Express第三代总线接口，具有高吞吐量数据传输才能，一起具有子纳秒级同步以及集成的守时和触发。 用户能够运用LabVIEW和TestStand软件环境的高效出产力，以及一个由合作伙伴、附加IP、使用工程师团队组成的活泼生态体系，大幅下降测验本钱，缩短上市时刻，开发面向未来的测验设备，满意未来RF和混合信号测验的各种应战。
