把各种丈量集成到器材特性剖析中最困难的问题之一，是每种丈量类型基本上都要求不同的线缆。挑选与丈量类型配套的线缆增强了丈量完整性。可是，改动每种丈量类型的电缆耗时很长，许多用户只能承受次优成果。此外，在从头衔接电缆时，用户会面对电缆重连不正确的危险，然后导致过错，需求额定的调试时刻。更糟糕的是，这些过错在很长时刻内都或许留意不到。
针对这些开关测验的困扰，泰克环绕客户运用需求进行立异，其新式吉时利高速度、高完整性开关解决方案协助客户轻松完结杂乱测验。4200A-CVIV多通道开关在I-V丈量和C-V丈量之间主动切换，C-V丈量能够移动到任何输出通道上，而不需从头布线。这种4通道开关答运用户在I-V和C-V测验期间坚持相同的阻抗，能够把探针保留在晶圆测验站上。别的，用户不需求改动测验设置和电缆衔接，然后增强丈量的准确性。
双像素二极管特性剖析运用
伯克利国家实验室检测器部分的科研人员正在开发更高效的硅检测器，用来监测空基运用中运用的各种放射信号，如X射线。其检测器是一种双像素二极管传感器。双像素二极管由两个PIN二极管组成，每个二极管的阳极相连。开发作业包含在工厂铸造晶圆。晶圆铸造工艺一般要求在晶圆制造的各个阶段及在晶圆完工时进行测验，以保证工艺完整性，保证原型器材满意规划规范。
典型的器材特性剖析包含在高达100V和CV (电容-电压)的正向和逆向偏置条件下剖析IV特性。由于器材是双二极管摆放，因而每个器材要履行两次IV和CV测验，一对二极管中每个二极管测验一次。在运用旧式测验装备和设备时，整个器材特性剖析中每个器材需求长达10分钟才干完结IV和CV测验。
将旧式IV/CV测验设备换上吉时利Model 4200A和最新CVIV多开关后，客户的测验时刻显着缩短，由于不需求为每种测验类型手动从头装备测验，大大改进了数据收集和管理作业。
经过运用4200A-CVIV多开关来消除测验站从头装备，并在Clarius测验软件内部归纳履行一切测验，整体测验时刻从6分钟缩短到仅12秒。虽然这不是出产环境，但测验时刻缩短到几秒仍令科研人员非常高兴，由于他们能够把要点放在研讨上，更快地了解器材特色。
图1：4200A-CVIV多开关。
图2：运用传统设备所需的测验时刻与运用4200A-SCS参数剖析仪及CVIV多开关所需的测验时刻。
泰克高性能4200A-SCS 是一个模块化、可定制、高度一体化的参数剖析仪，可一起进行电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 电学测验。运用其可选的 4200A-CVIV 多通道开关模块，可轻松地在 I-V 和 C-V 丈量之间切换，而无需从头布线或抬起探针。4200A-SCS参数剖析仪可大大加速客户的测验速度，广泛用于资料研讨、半导体器材规划、工艺开发或出产的杂乱器材。
