拐点测验/线性度测验
这项测验对图1中所示的驱动电流IF和输出光强度L之间的份额关系进行测验校验。驱动电流IF和输出光强度L之间在额外的作业范围内应为线性关系。假如在丈量范围内，两者确实是线性关系，L-IF曲线的一阶导数曲线将是一条近似水平的线段，标记为dL/dIF曲线图。核算一阶导数dL/dIF能够扩大光强度－驱动电流曲线中的凸起或拐点。假如一阶导数曲线中有显着的拐点，换言之，即不是很滑润，则表明激光二极管有缺点。假如作业在拐点对应的驱动电流IF值，输出光强度不再与驱动电流成份额。光强度－驱动电流曲线的二阶导数的最大值可用以核算阈值电流，即激光二极管开端发光或许发光显着时的驱动电流值。
特定器材的拐点和线性度也能够根据对光强度丈量成果的剖析进行核算。
温度测验
LIV测验一般在多个温度下对激光二极管进行。有时会在器材目标中的标称温度以及极限温度下对激光二极管进行测验，如–40°C, 25°C, 和85°C。另一种常见的温度测验计划是在一系列温度下进行LIV测验，如5°C、10°C、 15°C、20°C、25°C、30°C、和 35°C，然后对这一组LIV测验曲线进行剖析，以确保器材满意标准要求。
