ROHS检测仪便是X射线荧光光谱仪，其剖析原理也便是X射线荧光光谱仪的剖析原理。X射线荧光光谱仪一般可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪首要部件包含激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简略。
ROHS检测仪
剖析原理
ROHS检测仪
便是X射线荧光光谱仪，其剖析原理也便是X射线荧光光谱仪的剖析原理。X射线荧光光谱仪一般可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪首要部件包含激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简略。
波长色散X射线荧光光谱仪运用剖析晶体分辩待测元素的剖析谱线，依据Bragg规律，经过测定视点，即可取得待测元素的谱线波长：
λ=2dsinaθ（n=1,2,3…）
式中，λ为剖析谱线波长；d为晶体的晶格距离；θ为衍射角；n为衍射级次。使用测角仪能够测得剖析谱线的衍射角，使用上式能够核算相应被剖析元素的波长，然后取得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则选用能量探测器，经过测定由探测器收集到的电荷量，直接取得被测元素宣布的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器发生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的呼应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故经过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需求选用必定的激发源才干取得。现在惯例选用的激发源首要有射线光管和同位素激发源等。
为取得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须选用必定的样品制备技能，并对取得的强度进行相关的谱剖析和数据处理。
