S698PM芯片是一款抗辐照型的高功用、高牢靠、高集成度、低功耗的多核并行处理器SoC芯片，其芯片内部集成了丰厚的片上外设，可广泛应用在航空航天、大容量数据处理、工业操控、船只、测控等应用领域;而J750是业界比较认可测验成果的SOC芯片ATE(Automatic Test Equipment)测验机，市场占有率十分高。下面首要介绍在J750上开发S698PM芯片BSD测验程序及注意事项。
1.概述
跟着SOC芯片体系功用越来越杂乱，在一颗芯片中，一般包含有数字部分、模仿部分以及相关的存储器材，乃至有的还有射频模块，这不但对ATE测验设备提出更快、更高的要求，而且还要考虑测验时刻本钱，因而一般客户会要求测验程序前两项测验项目要能够快速判别出SOC芯片90%常见问题的缺点。经过多年SOC测验办法和测验原理探索，逐步构成前两项测验内容规范：一个是电流功耗测验，别的一个便是BSD测验项目流程。
2.S698PM芯片简介
S698PM芯片是一款抗辐照型的高功用、高牢靠、高集成度、低功耗的多核并行处理器SoC芯片; S698PM芯片内部集成了丰厚的片上外设，包含常见USB2.0主控器、I2C主控器、以太网操控器等功用模块; S698PM芯片支撑RTEMS、 eCOS、VxWorks、Linux等实时嵌入式操作体系，用户可便利地完结嵌入式实时操控体系的高功用多核并行处理规划。
S698PM芯片选用了TMR技能对芯片内部一切逻辑单元进行了三模冗余加固，选用EDAC技能对内部与外部存储器进行了检错纠错加固，因而该芯片的具有很高的抗辐照才能。
S698PM是全球第一款量产化的对标LEON4内核版别的嵌入式SPARC V8多核SOC芯片，其在功用及功用等方面均领先了业界的同类型产品。S698PM代表了当今SPARC嵌入式SOC芯片的最高水平。
3.BSD测验项目原理
BSD(Boundary-scan Diagnostics)的测验原理首要是使用芯片里JTAG电路进行芯片管脚电路检测是否有功用缺点的测验办法。因而SOC芯片里的JTAG电路首要具有两个功用，而且可经过形式挑选管脚来设定。一个功用是经过JTAG电路进行软件装备和调试SOC芯片内核作业参数，完结软件在线调试功用;另一个功用便是经过JTAG口灌入扫描操控信号进行芯片硬件电路的BSD测验或是MBIST测验。
在芯片规划阶段，当刺进JTAG电路的一起，会在芯片的一切管脚接口上刺进一个带时钟的触发器，并把该时钟信号衔接到JTAT_CLK信号上，一起把触发器的输入端和输出端依照扫描链的串行互联办法衔接，并把开始的输入端衔接到JTAT_DI端，把最终的输出端衔接到JTAT_DO端，构成一个闭环的测验链。最终使用东西生成BSD测验程序需求的PATTERN文件，提供给测验机测验需求。
4.依据J750的BSD测验办法
首要，BSD测验需求预备测验向量文件，该文件是由IC规划工程师在刺进JTAG电路时，生成的鸿沟扫描向量表文件，一起生成测验机所需的TimingSet参数设置文件，这两个文件一起决议了信号的类型及信号随时钟周期的改变。
信号的常见类型有RH、RL、NR、ROFF、SBC、SBH、SBL等，一般时钟信号的类型为SBL，这样时钟的周期可设、脉冲宽度可控，便利测验机操控该要害信号;其他信号类型一般为NR，便利J750测验机监测。
第二过程，使用J750测验软件Patter Compiler功用模块，把规范PATTERN文件转化成J750辨认的格式文件，如下图1所示：
第三过程，使用J750的测验程序导入功用，将上述两个文件导入到程序里，完结测验机的TimingSet参数等参数设定, 并依据测验机特性及S698PM时序要求能够微调参数，如下图2所示：
第四过程，设定BSD Function Test功用模块参数，调用BSD测验程序所需的直流和沟通参数，以及PATTERN文件。如下图3所示：
第五过程，履行BSD function Test指令，在测验过程中，假如成果不满足要求，可进行TimingSet表格中的时刻参数微调，测验成果陈述如下图4所示：
5.结束语
本文扼要介绍了选用 Teradyne-J750EX 自动测验设备来测验嵌入式SoC 芯片S698PM 的BSD测验原理及注意事项。从测验作用来看，因BSD测验办法与芯片内部电路没有太大联系，能够快速判读出芯片管脚电路是否有缺点，大大地缩短测验时刻，然后节省了测验时刻，降低了测验本钱，因而该BSD测验办法值得推行。
