反射光强度的检测电路(CD4052B、CD4011B)

如图所示为反射光强度的检测电路。该电路由红外发光二极管、光电二极管、CMOS模仿开关、运算放大器等组成。 电路正常作业时，首要使红外发光二极管(LED)不发光，光电二极管接收到的外部搅扰信号转换为电信号后加至负方向积分电路，设此段时刻为T1；然后使LED发光，光电二极管接收到的光信号转换为电信号后加至正方向积分电路，设此段时刻为T2。设T1=T2。则电路显示出来所坚持的信号与外部搅扰无关，仅与反射光强度有关。坚持信号的这段时刻称为坚持时刻，记为T3。相应积分器复位对应的时刻为T4。在作业频率(50Hz或60Hz)下，为了有效地防止同步外部搅扰，最好使T1=T2=N/f(N取整数，f为作业频率)，或许取T1=T2＜＜1/f。该电路结构简略，运用输出功率为5～10mW的红外发光二极管和光电二极管，可在间隔10～100mm处检测反射光强度。电路中运算放大器的输入偏置电流应远小于光电流。电路增益取决于积分时刻和积分电容Ci。本电路除了能够扫除搅扰检测反射光强度(反射光率)外，还可用于检测间隔、歪斜和通过率，特别适用于检测各种光强。此外，本电路还可用于霍尔元件的磁性丈量及其他丈量。